因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
检测项目
Ra(轮廓算术平均偏差)、Rz(最大高度粗糙度)、Rq(均方根粗糙度)、Rt(总高度)、Rp(最大峰高)、Rv(最大谷深)、Rsk(偏斜度)、Rku(陡度)、Rsm(轮廓单元平均宽度)、Rmr(材料比率曲线)、Pc(峰计数)、λq(均方根波长)、Sa(三维算术平均高度)、Sq(三维均方根高度)、Sz(三维最大高度)、Sdr(界面扩展比)、Vmp(峰值材料体积)、Vvv(谷值空隙体积)、PSD(功率谱密度)、ACF(自相关函数)、RMS梯度、分形维数、各向异性指数、表面支承指数、波纹度分离参数、滤波截止波长、局部斜率分布、微凸体分布密度、接触刚度系数、弹性变形量预测
检测范围
光学透镜、棱镜镀膜面、晶圆抛光面、MEMS器件结构层、磁头滑轨面、精密轴承滚道、注射模具型腔、刀具切削刃口、涡轮叶片气膜孔、光纤端面、蓝宝石窗口片、光刻掩模版、真空镀膜基板、微流控芯片通道、纳米压印模板、磁盘存储介质、激光谐振腔镜面、红外探测器窗口、生物医学植入体表面、燃料电池双极板、航天器热控涂层、X射线反射镜、原子钟谐振腔体、量子计算芯片基底、超导薄膜表面、纳米压痕测试区域、微机电弹簧接触面、光子晶体结构面、微阵列探针尖端
检测方法
1.白光干涉显微术:利用宽带光源产生干涉条纹,通过相移算法重建三维形貌,测量范围0.1nm-1mm2.激光共聚焦显微术:采用点扫描方式获取层析图像,轴向分辨率达10nm,适合陡峭侧壁测量3.原子力显微术(AFM):探针接触式扫描实现原子级分辨率,可测0.1nm-10μm范围的表面特征4.焦点变化显微术:通过快速变焦获取景深信息,适用于大倾角表面(可达87)的粗糙度分析5.数字全息显微术:记录并重建物光波前相位信息,实现动态过程的三维形貌实时监测6.散射光分析法:基于光散射强度与表面统计参数的相关性进行快速在线检测7.电子隧道显微术(STM):在真空环境下探测电子隧道电流变化,实现原子级表面成像8.X射线反射法:通过X射线反射率曲线反演表面粗糙度参数及薄膜厚度信息9.触针式轮廓术:机械探针接触扫描获得二维轮廓数据,符合传统粗糙度评定标准10.数字图像相关法:结合显微成像与图像处理算法提取亚像素级位移场
检测标准
ISO4287:1997产品几何量技术规范(GPS)表面结构:轮廓法术语定义及表面参数ISO25178-2:2022产品几何量技术规范(GPS)表面结构:区域法第2部分:术语定义及表面纹理参数ASMEB46.1-2019表面纹理标准:表面粗糙度,波纹度和纹理方向GB/T3505-2020产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法术语定义及表面结构参数ASTME284-22光学和触觉表面纹理测量相关标准术语DINENISO13565-2:1998几何产品规范(GPS)具有分层功能特性的表面结构JISB0601:2022产品几何规格(GPS)-表面纹理:轮廓曲线法-术语,定义及表面纹理参数ISO/TS16610-22:2015GPS滤波-轮廓滤波器:样条滤波器VDI/VDE2650-2018光学三维测量系统特性描述指南GB/T10610-2009产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法
检测仪器
1.ZygoNewView系列白光干涉仪:配置100倍Mirau物镜实现0.1nm垂直分辨率,内置ISO标准分析模块2.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜:配备405nm紫色激光器与高速扫描振镜系统支持大面积拼接测量3.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:集成多波段光源与振动隔离系统适应工业现场环境下的纳米级测量4.ZeissLSM900共聚焦系统:采用GaAsP高灵敏度探测器实现低反射率表面的高信噪比成像5.ParkSystemsNX20原子力显微镜:具备智能扫描模式与热漂移补偿功能保障长期测量稳定性6.AliconaInfiniteFocusG5变焦显微镜:结合轴向色差原理实现0.8nm分辨率与大视场快速测量7.TaylorHobsonCCIHD非接触式轮廓仪:采用专利相干相关干涉技术提升陡坡表面的测量精度8.SensofarSneox三维光学轮廓仪:模块化设计支持共聚焦/干涉/焦点变化三种测量模式自由切换9.MitutoyoSJ-500触针式粗糙度仪:符合JIS/ISO标准的接触式测量系统最高取样长度80mm10.BrukerDektakXT台阶仪:配备12μm半径触针实现薄膜台阶高度与粗糙度的同步测量
检测流程
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件