纳米氧化石墨检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

厚度分布、层数统计、横向尺寸测定、比表面积分析、孔隙率测试、表面zeta电位测量、元素组成分析、碳氧原子比测定、官能团含量（羟基/羧基/环氧基）定量、结晶度指数计算、缺陷密度评估、热失重温度点测定、电导率测试、磁化率测量、荧光量子产率分析、分散液稳定性（Zeta电位法）、团聚指数计算、重金属残留量（ICP-MS）、有机杂质含量（GC-MS）、生物相容性测试（细胞毒性）、光热转换效率测定、催化活性评价（降解实验）、机械强度测试（AFM三点弯曲）、透光率测量（UV-Vis）、导热系数测定（激光闪射法）、抗氧化性能评估（自由基清除实验）、吸油值测定（甲苯吸附法）、pH敏感性测试（溶胀率变化）、电磁屏蔽效能（波导管法）、摩擦系数测定（微力测试台）

检测范围

锂离子电池电极材料、超级电容器隔膜涂层、高分子复合材料增强相、药物载体系统、肿瘤光热治疗剂、海水淡化膜组件、柔性电子导电油墨、防腐涂料添加剂、污水处理吸附剂、DNA传感器探针材料、3D打印生物支架、电磁屏蔽薄膜、导热界面材料、燃料电池催化剂载体、抗菌敷料涂层、太阳能光热转换膜、摩擦纳米发电机组件、重金属离子吸附剂、油水分离网膜材料、柔性显示屏透明电极、智能包装阻隔层、建筑混凝土增强纤维、航空航天结构复合材料、汽车轻量化部件改性剂、纺织品抗静电处理剂、工业润滑剂添加剂、农药缓释载体系统、食品包装抗菌层、口腔修复生物陶瓷增强体、核废料封装基体材料

检测方法

1.原子力显微镜（AFM）：通过探针接触式扫描获取单层厚度（0.8-1.2nm）及表面粗糙度数据
2.透射电子显微镜（TEM）：电子衍射模式分析晶格间距（0.34-0.83nm）及层间堆垛结构
3.X射线光电子能谱（XPS）：C1s分峰拟合计算C/O比及含氧官能团比例
4.拉曼光谱：D峰与G峰强度比(ID/IG)表征sp缺陷密度(0.8-1.5)
5.动态光散射（DLS）：水相分散体系下测量流体力学直径(50-500nm)及PDI值(<0.3)
6.热重-差示扫描量热联用（TG-DSC）：氮气氛围下测定5%失重温度(200-300℃)及氧化放热峰
7.紫外-可见分光光度计：特征吸收峰(230nm)定量分析浓度标准曲线
8.四探针电阻仪：薄膜样品表面电阻率测量(10-1000Ω/sq)
9.同步辐射小角X射线散射（SAXS）：统计平均横向尺寸分布(100-1000nm)
10.X射线衍射（XRD）：002晶面衍射角位移计算层间距(0.7-1.2nm)

检测标准

GB/T33818-2017纳米材料表征用透射电子显微镜技术规范
ISO/TS21357:2021纳米技术-氧化石墨烯薄片特性测量方法
ASTME2865-2012纳米颗粒zeta电位测量的标准指南
GB/T38714-2020石墨烯材料厚度测量方法
ISO/TR19716:2016纳米技术-拉曼光谱在碳基纳米材料表征中的应用
JISK0145:2022表面化学分析-X射线光电子能谱通则
GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯定量分析方法
ISO20904:2020纳米材料热重分析法测定挥发性成分
ASTMF3294-2018石墨烯薄片缺陷密度测试标准指南
GB/T30544.13-2022纳米科技术语第13部分：石墨烯相关材料

检测仪器

1.高分辨透射电镜（HRTEM）：配备EDS探测器实现原子级形貌观察与元素面分布成像
2.原子力显微镜-红外联用系统（AFM-IR）：同步获取纳米级空间分辨率化学键振动信息
3.X射线光电子能谱仪：单色化AlKα光源配合Ar+刻蚀进行深度剖面分析
4.激光共聚焦拉曼光谱仪：532nm/633nm双波长激发系统消除荧光背景干扰
5.Zeta电位及粒度分析仪：动态光散射与电泳光散射联用测量胶体稳定性参数
6.全自动比表面及孔隙度分析仪：BET法多点吸附测定比表面积(200-800m/g)
7.同步辐射光源X射线散射站：小角/广角联用解析多尺度结构特征
8.微区光电性能测试系统：四探针台集成光电响应模块测量载流子迁移率
9.多功能材料试验机：配备纳米压痕模块测试弹性模量(0.1-1TPa)
10.稳态瞬态荧光光谱仪：时间相关单光子计数法测定激子寿命

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件