因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
检测项目
层间振动模式分析、G峰半高宽测量、2D峰对称性评估、峰位偏移量计算、层数依赖性峰强比(I2D/IG)、应变效应校正、基底干扰消除、缺陷密度关联分析、电子掺杂影响修正、温度漂移补偿、激光功率阈值确定、偏振依赖性测试、空间分辨率验证、信噪比优化、多层堆垛角度识别、异质结界面耦合效应表征、边缘效应校正、荧光背景扣除、激发波长适配性测试、聚焦深度控制测试、横向均匀性扫描测试、纵向穿透深度验证、热效应阈值测定、大气吸附影响评估、电荷转移效应修正、晶格对称性验证、声子限域效应分析、共振拉曼增强效应应用测试、应力分布映射测试
检测范围
单层石墨烯薄膜、双层二硫化钼纳米片、三层氮化硼晶体、少层黑磷薄片、四层二硒化钨量子点、五层二碲化钼异质结、六层锗烯复合材料、七层硅烯-石墨烯复合体系、八层二硫化铼纳米带、九层二硒化铌超晶格结构、十层碲化铋拓扑绝缘体薄膜、过渡金属硫化物(TMDCs)系列样品(WS₂/MoS₂/WSe₂/MoSe₂)、Ⅳ-Ⅵ族化合物(SnS₂/SnSe₂)、Ⅲ-Ⅵ族化合物(InSe/GaTe)、Ⅴ-Ⅵ族化合物(Bi₂Te₃/Sb₂Te₃)、MXene材料(Ti₃C₂Tx/Nb₄C₃Tx)、Xenes材料(锑烯/铪烯)、Janus型二维材料(MoSSe/WSSe)、垂直异质结(Gr/hBN/MoS₂)、横向异质结(WS₂-WSe₂)、转角双层石墨烯(θ=1.1~30)、化学气相沉积(CVD)生长样品、机械剥离法制备样品、液相剥离分散液滴铸薄膜、分子束外延(MBE)生长超薄晶体
检测方法
1.共聚焦显微拉曼光谱法:采用532/633/785nm激光光源配合100物镜实现亚微米级空间分辨率,通过精确控制激光功率(通常<1mW)避免热损伤2.偏振分辨拉曼光谱法:利用入射光偏振方向与晶体取向的夹角变化解析各向异性振动模式3.变温拉曼测试:在77-500K温区内监测声子模频率的温度系数变化4.面扫描成像技术:通过XY平台自动扫描构建二维材料的厚度分布图5.共振拉曼增强法:调节激发光子能量至材料电子跃迁能级附近实现信号倍增6.超低波数拉曼测试:采用三光栅单色仪或体布拉格光栅扩展检测下限至10cm⁻7.时间分辨拉曼光谱:利用飞秒激光脉冲研究载流子弛豫动力学过程8.针尖增强拉曼技术(TERS):结合原子力显微镜实现<10nm空间分辨率
检测标准
ISO/TS21356-1:2020纳米技术-石墨烯特性表征-第1部分:拉曼光谱法测定层数ASTME2520-21拉曼光谱法测定碳纳米材料结构特性的标准指南GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量拉曼光谱法IECTS62607-6-5:2020纳米制造-关键控制特性-第6-5部分:石墨烯基材料-层数测定:光学方法JISK0136:2022拉曼光谱分析法通则ISO20351:2017精细陶瓷(先进陶瓷)-半导体用二维材料厚度测量方法DINSPEC52412:2019纳米材料表征-过渡金属硫属化合物层数的光学测定BSPDCEN/TS17627:2021纳米技术-二维材料的拉曼光谱表征协议T/CSTM00356-2021化学气相沉积法制备石墨烯薄膜层数的测试方法SAEAS6989:2022航空航天用二维材料验收规范-第4章:光学表征方法
检测仪器
1.共聚焦显微拉曼光谱仪:配备532nm/633nm/785nm多波长激光器,100长焦物镜(NA>0.9),CCD探测器冷却至-60℃降低暗电流噪声2.超低波数拉曼系统:集成三阶光栅单色仪与陷波滤波器,可探测10-200cm⁻区间的层间剪切模振动信号3.偏振调制附件:包含λ/2波片旋转台和偏振分析器组件,用于各向异性振动模式解析4.原位加热/冷却台:配备Linkam温度控制器实现77-800K精确控温测试5.AFM-Raman联用系统:整合原子力显微镜形貌成像与拉曼光谱采集功能6.时间分辨拉曼装置:采用脉冲宽度<100fs的超快激光器和条纹相机探测器7.TERS探针组件:镀银硅探针尖端曲率半径<20nm实现纳米级空间分辨率
检测流程
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件