红外薄膜折射率检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

折射率测定、消光系数分析、厚度测量、均匀性评估、透射率测试、反射率表征、吸收系数计算、色散关系建模、膜层应力分布、界面粗糙度分析、光学带隙确定、双折射效应检测、偏振特性研究、温度稳定性测试、湿度影响评估、激光损伤阈值测定、膜层附着力检验、化学稳定性验证、热膨胀系数测量、表面形貌扫描、缺陷密度统计、孔隙率分析、多层膜干涉分析、梯度折射率表征、各向异性评估、老化性能测试、耐腐蚀性验证、光谱响应曲线绘制、相位延迟测量、驻波场分布检测

检测范围

硫化锌红外窗口薄膜、氟化镁增透膜、锗基抗反射涂层、硅基红外滤光片、氧化铟锡透明导电膜、氮化硅钝化层、二氧化钛高折射膜层、金属铝反射镜镀膜类金刚石碳膜（DLC）、硫化铅光电探测器涂层硒化锌基底镀膜砷化镓红外透镜镀层碲化镉光伏薄膜氧化钇稳定氧化锗膜聚酰亚胺柔性衬底镀膜碳化硅耐高温涂层二氧化硅钝化层氮化铝散热膜氧化铪高介电常数薄膜钽酸锂压电薄膜氧化钨电致变色膜硫化镉光电导膜氧化镍吸波涂层氧化锌纳米柱阵列金红石型二氧化钛光子晶体氟掺杂氧化锡低辐射膜氮化硼导热涂层二硫化钼润滑薄膜石墨烯复合导电膜

检测方法

1.椭圆偏振法：通过测量偏振光与薄膜相互作用后的振幅比和相位差变化反演光学常数
2.光谱反射法：利用宽谱光源测量不同波长下的反射率曲线进行模型拟合
3.干涉显微术：基于白光干涉原理实现亚纳米级表面形貌与膜厚同步测量
4.棱镜耦合技术：通过测量导模共振角度确定波导层有效折射率
5.X射线反射法（XRR）：利用X射线在界面处的干涉效应解析膜层密度与厚度分布
6.太赫兹时域光谱：通过时域脉冲信号分析获取太赫兹波段的复折射率
7.光声光谱法：基于光热效应测量薄膜对特定波长激光的能量吸收特性
8.共聚焦拉曼光谱：结合空间分辨能力分析局部区域的应力诱导频移
9.掠入射X射线衍射（GIXRD）：表征薄膜晶体结构对光学性能的影响
10.扫描电子显微镜（SEM）：直观观测断面结构验证物理厚度测量值

检测标准

ISO14782-2018《塑料-透明材料雾度和透光率的测定》
ASTME903-2020《使用积分球法测定材料的太阳吸收比的标准试验方法》
GB/T26323-2010《色散型红外分光光度计通则》
ISO13697-2019《光学和光子学-激光及激光相关设备-光学激光元件反射率和透射率的测试方法》
DIN58197-2017《光学薄膜的测试-光学特性的测定》
JISK7125-2021《塑料薄膜及薄板的光弹性系数试验方法》
GB/T36226-2018《不锈钢真空镀膜质量检验方法》
ISO21254-2019《激光和激光相关设备-激光诱导损伤阈值的测试方法》
ASTMF1048-2020《用棱镜耦合器测量光学波导参数的试验方法》
IEC61340-5-1:2021《静电学-电子器件的静电防护-一般要求》

检测仪器

1.光谱椭圆偏振仪：配备自动旋转检偏器与高灵敏度CCD探测器，支持0.4-25μm宽谱测量
2.傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：采用迈克尔逊干涉仪结构实现高信噪比中远红外分析
3.白光干涉轮廓仪：垂直分辨率达0.1nm的接触式表面形貌测量系统
4.激光共聚焦显微镜：集成405-1550nm多波长光源的三维形貌重构设备
5.X射线衍射仪：配备平行光束光学系统与二维探测器的高通量结构分析平台
6.纳米压痕仪：载荷分辨率0.1μN的机械性能测试系统
7.椭偏成像系统：空间分辨率5μm的二维光学常数分布测绘装置
8.低温恒温器：支持10-500K变温环境下的光电特性原位测试
9.Z扫描系统：基于开孔/闭孔配置的非线性光学特性表征设备
10.激光量热计：功率密度达10MW/cm的损伤阈值测试平台

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件