体积平均粒径(D[4,3]):表征颗粒群中所有颗粒体积的加权平均直径,对样品中大颗粒的存在非常敏感。
数量平均粒径(D[1,0]):基于颗粒数量统计的平均直径,对小颗粒的分布变化反应灵敏。
中位粒径(D50):累积分布达到50%时所对应的粒径值,是衡量颗粒群中心趋势的最常用指标。
跨度(Span):用于描述粒度分布的宽度,计算公式通常为(D90-D10)/D50,值越大分布越宽。
均匀性指数:评估颗粒大小均一程度的参数,指数越高,表明粒度分布越集中、越均匀。
D10与D90:分别代表累积分布为10%和90%时对应的粒径,用于界定分布的主要区间和尾部情况。
比表面积:基于粒度分布数据推算的单位质量颗粒的总表面积,与反应活性、溶解性等性能密切相关。
模态粒径:频率分布曲线中峰值所对应的粒径,用于判断样品中最主要的颗粒尺寸。
粒度分布曲线:以图表形式完整展示颗粒在不同粒径区间内的体积或数量百分比分布情况。
颗粒形貌定性分析:辅助判断颗粒的基本形状,如球形、片状或不规则状,为工艺优化提供参考。
原料药粉末:对合成得到的原始二烷基芳香双脲原料进行粒度分析,评估其初始物理状态。
结晶工艺中间体:监控结晶过程中不同阶段的颗粒粒度,以优化结晶条件与控制晶体生长。
干燥后成品:检测经过干燥、粉碎等单元操作后最终产品的粒度,确保符合质量标准。
不同合成批次对比:比较各批次产品间的粒度分布一致性,是质量控制的关键环节。
工艺条件优化研究:研究反应温度、搅拌速度、溶剂体系等工艺参数对最终产品粒度的影响。
稳定性考察样品:在加速或长期稳定性试验中,监测粒度分布随时间的变化,评估产品物理稳定性。
制剂前处理物料:在将原料药与辅料混合进行制剂前,确认其粒度满足制剂工艺的特定要求。
研磨或微粉化样品:评估经过机械粉碎处理后样品的粒度变化及分布特征,优化粉碎工艺。
溶解过程监控:研究特定介质中颗粒的溶解行为与粒度变化的关系。
供应商来料检验:对采购的二烷基芳香双脲原料或中间体进行入库前的粒度质量确认。
激光衍射法(LD):最常用的方法,基于颗粒对激光的散射角度与粒径相关的原理,测量范围宽,重现性好。
动态光散射法(DLS):通过分析颗粒布朗运动引起的散射光强波动来测量亚微米及纳米级的粒径,适用于分散良好的体系。
图像分析法:通过显微镜拍摄颗粒图像,经软件分析直接获得粒径、形状等参数,结果直观但统计代表性需注意。
筛分法:传统机械筛分方法,适用于较大颗粒(通常>38μm)的粗略分级,结果以重量分布表示。
电感应区法(库尔特法):颗粒通过小孔时引起电阻变化,其脉冲幅度与颗粒体积成正比,精度高但测量速度较慢。
沉降法:基于斯托克斯定律,根据颗粒在液体中的沉降速度来测定粒径,适用于密度已知的样品。
超声衰减谱法:利用超声波通过悬浮液时的衰减谱来反演粒度分布,可用于高浓度浆料的在线测量。
X射线沉降法:结合沉降原理与X射线吸收检测,能测量从亚微米到数百微米的宽分布样品。
光子交叉相关光谱法(PCCS):DLS的增强技术,能有效抑制多重散射,适用于较高浓度的纳米颗粒分散体系。
静态光散射法(SLS):测量散射光强的角度分布来获取粒度信息,常与激光衍射技术结合使用。
激光粒度分析仪:集成了激光光源、多元探测器、样品分散系统和分析软件,是执行激光衍射法的主力设备。
纳米粒度及Zeta电位分析仪:具备动态光散射(DLS)功能,用于测量纳米范围的粒径分布与颗粒的表面电位。
静态图像颗粒分析系统:通常由光学显微镜、自动载物台、高分辨率相机和专用图像分析软件构成。
动态图像颗粒分析系统:颗粒在流动中连续被拍摄并分析,统计效率远高于静态图像法,适合分析大量颗粒。
振筛机与标准检验筛:用于执行标准筛分分析的成套设备,包括一套孔径符合国际标准的筛网和自动振筛装置。
库尔特计数器:基于电感应区原理的精密颗粒计数与粒度分析仪器,尤其适用于细胞或生物颗粒分析。
离心沉降式粒度仪:通过离心加速沉降过程,大大缩短了细颗粒的测量时间,扩展了沉降法的测量下限。
在线激光粒度分析系统:配备工业级探头,可直接插入管道或反应釜中,实现对生产过程的实时、连续粒度监控。
超声粒度分析仪:专门利用超声衰减谱技术,适用于高浓度浆料、乳液等不透明样品的无损检测。
干法分散进样装置:作为激光粒度仪的附件,使用压缩空气分散和输送干粉样品,避免溶剂影响,适用于易溶于分散介质的样品。
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