X射线衍射物相测试

检测项目

物相定性分析：通过将样品的衍射图谱与标准粉末衍射数据库进行比对，确定样品中存在的结晶物相种类。

物相定量分析：基于衍射峰的强度信息，测定样品中各结晶相的质量分数或体积分数。

晶胞参数精修：精确计算晶体晶胞的边长、夹角等几何参数，用于研究固溶体、热膨胀等。

结晶度测定：区分并计算样品中结晶部分与非晶态部分的相对含量。

晶体结构解析与精修：通过衍射强度数据，确定原子在晶胞中的位置，并优化结构模型。

残余应力分析：通过测量晶面间距的变化，计算材料表面或内部的宏观残余应力。

织构与取向分析：研究多晶材料中晶粒的择优取向分布情况。

薄膜厚度与密度分析：通过X射线反射或掠入射衍射技术，测定薄膜的厚度、密度和界面粗糙度。

晶粒尺寸与微观应变分析：通过衍射峰的峰形变化，利用谢乐公式等估算平均晶粒尺寸和微观应变。

高温/低温原位相变分析：在变温环境下实时监测材料的相变过程、相变温度及中间相。

检测范围

金属与合金材料：分析相组成、析出相、加工硬化、热处理效果及应力状态。

无机非金属材料：涵盖陶瓷、玻璃、水泥、耐火材料、矿物等的物相鉴定与定量。

高分子与聚合物材料：测定结晶度、晶型、取向度以及共混物的相分离行为。

催化剂与多孔材料：表征活性组分晶型、载体结构、孔道结构及反应过程中的结构变化。

药品与原料药：鉴别药物的不同晶型、水合物及溶剂化物，确保药品质量与专利保护。

地质与矿物样品：用于岩矿鉴定、矿床成因分析、土壤成分分析等地质学研究。

纳米材料：确定纳米颗粒的晶相、尺寸，并研究其尺寸效应。

半导体材料：分析外延薄膜的晶体质量、应变状态、层厚及组分。

考古与文化遗产：无损鉴定古代陶瓷、颜料、金属文物等的制作工艺和原料来源。

环境与工业产物：分析大气颗粒物、工业废渣、腐蚀产物的物相组成，用于环境评估和工艺优化。

检测方法

粉末衍射法：最常用的方法，将样品研磨成细粉以消除取向影响，获得全谱进行物相分析。

掠入射X射线衍射：以极小角度入射，增强对表面、薄膜或界面层的探测灵敏度，减少基底信号干扰。

高分辨X射线衍射：使用高精度测角仪和光学系统，用于精确测定晶格参数、薄膜应变及缺陷分析。

微区X射线衍射：利用聚焦的X射线束对样品微小区域进行物相分析，实现空间分辨。

二维X射线衍射：使用面探测器快速采集德拜环信息，适用于织构、应力及动态过程研究。

变温X射线衍射：在高温、低温或变温环境中进行测量，用于研究相变动力学和热膨胀行为。

原位/操作X射线衍射：在样品处于特定环境或外加场下实时测试，如加湿、通电、化学反应过程等。

全谱拟合精修法：基于Rietveld方法，利用计算的全谱与实测谱进行拟合，实现精确的定量和结构精修。

小角X射线散射：分析纳米尺度（1-100 nm）的结构信息，如纳米颗粒尺寸分布、孔结构等。

对分布函数分析：将衍射数据转换为原子对关联函数，可用于研究非晶、液体等短程有序结构。

检测仪器设备

X射线发生器：产生高稳定度、高强度的X射线光源，通常为铜靶，提供特征X射线。

测角仪系统：核心机械部件，精确控制样品和探测器在θ-2θ或其它几何下的联动旋转。

光学系统：包括索拉狭缝、单色器、毛细管透镜等，用于准直、单色化或聚焦X射线束。

样品台与附件: 提供多样化的样品放置方式，如旋转样品台、平板样品台、变温台、应力台等专用附件。