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发布时间:2025-06-03
关键词:半导体激光器规范检测标准,半导体激光器规范试验仪器,半导体激光器规范项检测报价
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
输出功率稳定性、波长精度偏差、阈值电流测试、斜率效率测定、光束质量因子M值、发散角测量、偏振度分析、光谱宽度(FWHM)、近场/远场光斑分布、电光转换效率、反向击穿电压、漏电流测试、热阻系数计算、结温升监测、寿命加速老化试验、ESD抗扰度测试、调制带宽响应、相对强度噪声(RIN)、波长温度漂移率、封装气密性验证、焊接强度测试、抗振动冲击性能、储存温度循环试验、工作湿度耐受性、抗盐雾腐蚀能力、绝缘电阻测量、电磁兼容性(EMC)、谐波失真度分析、光反馈灵敏度阈值、非线性失真系数。
边发射激光二极管(EEL)、垂直腔面发射激光器(VCSEL)、量子阱激光器(QWLD)、分布式反馈激光器(DFBLD)、外腔可调谐激光器(ECL)、高功率阵列模块(Bar/Chip-on-Carrier)、光纤耦合封装器件(Fiber-CoupledPackage)、TO-CAN封装器件(TransistorOutline)、蝶形封装模块(ButterflyPackage)、同轴封装器件(CoaxialPackage)、微通道冷却型激光器(MicrochannelCooledLD)、热电制冷集成模块(TECIntegratedModule)、紫外波段激光器(UVLD)、红外波段激光器(IRLD)、可见光波段激光器(VisibleLD)、窄线宽可调谐激光器(NarrowLinewidthTunableLD)、脉冲调制型激光器(PulsedLD)、连续波工作型激光器(CWLD)、医用治疗级激光模组(MedicalGradeModule)、工业切割用高能激光头(IndustrialCuttingHead)、光通信发射组件(TelecomTransmitterOSA)、激光雷达核心光源(LiDARLightSource)、3D传感VCSEL阵列(3DSensingArray)、光子集成芯片(PICIntegratedLD)、生物检测用荧光激发光源(Bio-DetectionExcitationSource)、材料加工用准直光束模组(CollimatedBeamModule)、空间光通信终端组件(Free-SpaceOpticalTerminalUnit)、水下光通信耐压封装器件(SubmersiblePressure-ResistantPackage)。
积分球光谱分析法:采用2π立体角积分球配合光谱仪实现全空间光功率采集与光谱特性分析。
热阻瞬态测试法:通过电流阶跃激励结合结电压变化测量器件热阻参数。
光束质量扫描法:使用CCD相机或移动狭缝扫描装置获取光束剖面数据计算M因子。
加速老化试验法:在高温高电流条件下进行持续老化并记录输出功率衰减曲线。
调制响应曲线法:利用网络分析仪测量小信号调制下的S21参数获取3dB带宽。
偏振消光比测试法:通过旋转偏振片测量最大/最小透射光强计算偏振特性。
气密性氦质谱检漏法:采用氦气加压配合质谱仪检测封装器件泄漏率。
机械振动扫频法:依据MIL-STD-883标准进行正弦/随机振动测试评估结构可靠性。
结温红外热成像法:使用高分辨率红外相机非接触式测量工作状态下的结区温度分布。
ESD人体模型测试法:按IEC61000-4-2标准模拟静电放电事件验证器件抗静电能力。
IEC60825-1:2014《激光产品的安全第1部分:设备分类和要求》
GB/T31359-2015《半导体激光器测试方法》
ISO11146-1:2021《激光束宽度、发散角和光束传播比的测试方法》
MIL-STD-750-1《半导体器件试验方法第1部分:总则和分类》
JESD22-A104F《温度循环试验》
TelcordiaGR-468-CORE《光电子器件可靠性通用要求》
IEC60747-5-3:2020《半导体器件第5-3部分:光电子器件测试方法》
GB/T21548-2021《光通信用高速直接调制半导体激光器组件测试方法》
SJ/T11498-2015《半导体激光器参数测试方法》
ANSIZ136.1-2022《激光安全使用标准》
EN60825-12:2004《激光产品安全第12部分:工业用激光设备指南》
GB/T2423.17-2008《电工电子产品环境试验第2部分:盐雾试验方法》。
高精度光谱分析仪:0.02nm分辨率配置积分球附件,用于波长及光谱特性测量
光束质量分析系统:含M因子计算软件和微位移扫描平台的光斑分析装置
半导体参数分析仪:具备脉冲IV测试功能的高精度源表系统
恒温控制探针台:-40℃~150℃温控范围搭配真空吸附芯片夹具
振动冲击试验台:满足10-2000Hz扫频范围和50g峰值加速度的力学测试设备
红外热像仪:3μm空间分辨率配合锁相放大技术的非接触式测温系统
光功率计:覆盖190-2100nm波长范围且具备μW级测量精度的校准型仪表
寿命加速老化系统:多通道并行控制的恒流源与自动光功率监测装置
矢量网络分析仪:40GHz带宽配置光电转换模块的调制响应测试平台
氦质谱检漏仪:灵敏度达510⁻Pam/s的精密密封性检测设备。
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