X射线荧光光谱仪性能检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

能量分辨率测试、元素检出限验证、线性度校准、背景噪声测定、峰位漂移监测、计数率稳定性评估、重复性测试（RSD）、长期稳定性分析、探测器效率标定、多元素同步分析能力验证、基体效应补偿测试、真空系统密封性检查、准直器对齐精度确认、滤光片切换功能测试、样品台定位重复性检验、X光管功率稳定性监测、冷却系统效能评估、软件算法准确性验证、谱线干扰校正测试、定量分析误差率测定、仪器检出限验证（IDL）、方法检出限验证（MDL）、动态范围测试、死时间校正验证、脉冲堆积效应评估、元素间干扰系数测定、标准曲线拟合度检验、仪器比对一致性分析、环境温湿度适应性测试。

检测范围

不锈钢合金板件、铝合金压铸件、铜基电子接插件、焊锡材料镀层厚度片状样品、土壤重金属污染样本、矿石粉末压片试样、塑料制品阻燃剂添加物测试样块、陶瓷釉料薄片样品、玻璃制品着色剂分析样本、锂电池正极材料粉末压片试样、汽车尾气催化器涂层切片样本、PCB电路板镀金层截面样品、石油催化剂颗粒试样、水泥熟料粉末压片样本、钢铁冶炼炉渣研磨试样、贵金属首饰表面镀层切片样本、大气颗粒物滤膜样本沉积物分析样片。

检测方法

能量分辨率测试采用标准纯元素样品（如Fe55源）测量特征峰半高宽（FWHM），通过高斯拟合计算系统分辨率指标。
重复性测试选取均匀性良好的合金标样进行10次连续测量，计算各元素特征峰强度相对标准偏差（RSD）。
线性度校准使用梯度浓度标准物质建立工作曲线，通过相关系数R评估仪器响应线性范围。
检出限验证基于空白样品10次测量结果的3倍标准差计算最低可检浓度。
长期稳定性分析采用控制图法对同一标样进行周期性测量（间隔≥8小时），统计30天数据波动范围。
基体效应补偿测试通过对比纯物质与混合基体样品的回收率差异验证校正算法有效性。

检测标准

ISO3497:2000金属涂层-X射线荧光光谱法测厚标准
ASTME1621-13X射线荧光光谱法元素分析标准指南
GB/T16597-2019冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则
JISK0119:2017X射线荧光光谱分析方法通则
EN15305:2008无损检测-X射线荧光光谱法残余应力测定方法
ISO15597:2001石油产品-氯和硫含量测定（波长色散XRF法）
GB/T21114-2019耐火材料X射线荧光光谱化学分析方法
ASTMD6247-18X射线荧光法测定聚烯烃中元素含量
SN/T3323.4-2018进出口钛精矿化学分析方法第4部分：X射线荧光光谱法
HJ1211-2021土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法。

检测仪器

波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）配备多道晶体分光系统，适用于高精度多元素同步分析。
能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）采用半导体探测器实现快速筛查分析。
微区X射线荧光光谱仪（μ-XRF）配置毛细管聚焦光学系统，支持50μm级空间分辨率检测。
全反射X射线荧光仪（TXRF）通过全反射几何结构降低背景噪声，提升痕量元素检出能力。
手持式XRF分析仪集成硅漂移探测器（SDD），满足现场快速无损检测需求。
同步辐射X射线荧光装置利用高亮度光源实现ppb级超痕量元素分析。
多轴样品定位系统配备激光定位装置和自动旋转台，保证复杂形状样品的精确测量重复性。

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件