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成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。

碳纳米管粉体电阻率检测

发布时间:2025-05-27

关键词:碳纳米管粉体电阻率检测机构,碳纳米管粉体电阻率检测周期,碳纳米管粉体电阻率检测标准

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来源:北京中科光析科学技术研究所

文章简介:

检测项目体积电阻率、表面电阻率、导电性能、载流子浓度、霍尔系数、塞贝克系数、热导率、比表面积、孔径分布、Zeta电位、元素组成、金属杂质含量、晶体结构完整性、缺陷密度、团聚指数、分散均匀性、氧含量测定、灰分含量、振实密度、松装密度、粒径分布(D10/D50/D90)、长径比统计、取向度分析、热稳定性(TGA)、化学官能团(FTIR)、拉曼光谱特征峰(G/D峰比值)、XRD衍射峰半高宽、电磁屏蔽效能(SE)、介电常数(ε)、介质损耗角正切(tanδ)检测范围单壁碳纳米管粉体、多壁碳纳米管粉体、功能化修饰碳纳
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因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。

检测项目

体积电阻率、表面电阻率、导电性能、载流子浓度、霍尔系数、塞贝克系数、热导率、比表面积、孔径分布、Zeta电位、元素组成、金属杂质含量、晶体结构完整性、缺陷密度、团聚指数、分散均匀性、氧含量测定、灰分含量、振实密度、松装密度、粒径分布(D10/D50/D90)、长径比统计、取向度分析、热稳定性(TGA)、化学官能团(FTIR)、拉曼光谱特征峰(G/D峰比值)、XRD衍射峰半高宽、电磁屏蔽效能(SE)、介电常数(ε)、介质损耗角正切(tanδ)

检测范围

单壁碳纳米管粉体、多壁碳纳米管粉体、功能化修饰碳纳米管(羧基化/氨基化)、掺杂型碳纳米管(氮掺杂/硼掺杂)、碳纳米管导电浆料、碳纳米管/石墨烯复合粉体、碳纳米管/金属氧化物复合材料、锂离子电池电极材料(正极/负极)、超级电容器电极材料、导热硅脂复合材料、抗静电塑料母粒、电磁屏蔽涂料基材、柔性透明导电薄膜原料、传感器敏感材料、场发射阴极材料、结构增强型环氧树脂预浸料、碳纤维增强复合材料界面剂、导电油墨添加剂、燃料电池催化剂载体材料、相变储热复合材料基体材料3D打印导电耗材原料

检测方法

四探针法:通过四根等间距探针接触样品表面测量电压-电流关系计算体积电阻率范德堡法:采用对称电极配置消除接触电阻影响交流阻抗谱(EIS):分析不同频率下的阻抗特性获取载流子迁移信息扫描电子显微镜(SEM):观测表面形貌及分散状态透射电子显微镜(TEM):表征管径尺寸与层状结构激光粒度分析仪:测定团聚体粒径分布BET氮气吸附法:计算比表面积及孔径分布X射线光电子能谱(XPS):定量分析表面元素组成电感耦合等离子体质谱(ICP-MS):测定金属杂质含量热重分析仪(TGA):评估热稳定性及灰分含量

检测标准

GB/T24521-2023炭黑电阻率测定方法ISO1853:2018导电橡胶体积电阻率测试规程ASTMD257-14绝缘材料直流电阻测试标准IEC62631-3-1:2016纳米材料电性能测试指南JISK7194:2017塑料导电性四探针测试法GB/T35113-2017石墨烯材料电导率测试规范ISO80004-13:2017纳米技术术语-碳基材料篇ASTMF76-08(2020)半导体材料电阻率测量标准GB/T33323-2016粉体材料振实密度测定法DINEN61340-5-1:2016静电防护材料电阻测试

检测仪器

四探针电阻测试仪:配备高温真空腔体实现环境可控测量霍尔效应测试系统:可同步获取载流子浓度与迁移率参数激光闪射法导热仪:精确测量轴向/径向热导率差异全自动比表面及孔隙度分析仪:完成BET比表面积与孔径分布联测场发射扫描电镜(FE-SEM):实现5nm级微观形貌表征X射线衍射仪(XRD):分析晶体结构缺陷与石墨化程度同步热分析仪(TGA-DSC):同步监测热失重与相变过程动态光散射粒度仪(DLS):在线监测分散体系稳定性傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):识别表面官能团类型原子力显微镜(AFM):三维形貌重构与局部电导率映射

检测流程

1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品,安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件

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