电子探针标准样品检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

元素定性分析、元素定量分析、微区成分分布测试、线扫描分析、面扫描成像、氧化物含量测定、硫化物成分分析、金属间化合物鉴定、晶界偏析评估、夹杂物表征、镀层厚度测量、薄膜成分分析、矿物相鉴定、合金相组成测定、微量元素检测（ppm级）、主量元素误差校正、氧含量测定（非金属）、碳含量分析（轻元素）、稀土元素配分计算、同位素比值分析（特定条件）、表面污染检测、扩散层厚度评估、焊接界面成分分析、腐蚀产物鉴定、热处理相变研究、晶格常数计算（配合衍射）、电子产额校正验证、背散射电子成像解析、二次电子成像优化、X射线能谱校准

检测范围

不锈钢合金板、铝合金铸件、钛基复合材料、高温合金叶片、地质薄片标本（橄榄岩/辉长岩）、陨石切片样本、半导体硅晶圆、LED外延层结构、太阳能电池镀膜层、PCB焊点界面层、磁性材料钕铁硼永磁体、硬质合金刀具涂层（TiN/TiCN）、锂离子电池正极材料（NCM/LFP）、核燃料包壳锆合金管材、考古青铜器腐蚀层、牙齿釉质剖面样本、人工关节钛合金表面改性层、光纤预制棒掺杂区域、OLED有机发光层堆叠结构、纳米多层薄膜（Al2O3/ZrO2）、超导材料YBCO相组成、月壤模拟物玻璃质包裹体、汽车尾气颗粒物采集样本、海洋沉积物微结核体、催化剂载体涂层（Pt/Al2O3）、石墨烯复合导电薄膜、形状记忆合金马氏体相区

检测方法

波谱分析法（WDS）：利用晶体分光原理分离特征X射线波长，通过罗兰圆几何聚焦实现高分辨率（~10eV）元素分析，适用于原子序数Z≥5元素的精确定量。

能谱分析法（EDS）：采用半导体探测器直接接收X射线光子能量信号，通过多道脉冲高度分析实现快速全谱采集（0.1-20keV），适用于大面积成分普查及轻元素定性。

ZAF修正法：基于原子序数效应（Z）、吸收效应（A）和荧光效应（F）建立的三维数学模型，用于校正定量分析中的基体效应误差。

标样对比法：选用国际认证的标准物质（如NIST系列）建立强度-浓度校准曲线，要求标样与待测样在物理化学性质上严格匹配。

蒙特卡洛模拟法：通过电子轨迹模拟计算电子束与样品的相互作用体积，优化加速电压选择及空间分辨率控制。

检测标准

ISO22309:2011微束分析-能谱法定量分析指南

ASTME1508-12电子探针波谱仪校准规程

GB/T15074-2008电子探针定量分析方法通则

JISK0133:2016电子探针显微分析通则

ISO17470:2014微束分析-EPMA-能谱法定性分析指南

ASTME1621-13电子探针波谱仪系统性能验证标准

GB/T21636-2008电子探针显微分析术语

ISO14594:2014微束分析-EPMA-波长色散谱仪参数测定方法

ASTME766-14SEM图像放大倍率校准规程

GB/T20724-2006微束分析薄晶体标样规范

检测仪器

波长色散型电子探针（EPMA-WDS）：配备3-5道分光晶体系统（如LiF/TAP/STE），配备高精度真空系统（≤510⁻⁴Pa）和液氮冷阱装置。

场发射电子枪系统：采用热场发射源（Schottky型）或冷场发射源，束流稳定性≤0.5%/h。

全聚焦罗兰圆谱仪：配备PET（季戊四醇）晶体用于轻元素分析。

硅漂移探测器（SDD）：能量分辨率≤125eV@MnKα。

背散射电子探测器：配置四象限固态探测器用于原子序数衬度成像。

阴极荧光光谱系统：集成单色器与PMT探测器用于发光材料表征。

动态聚焦系统：配备实时Z轴补偿机构保证倾斜样品表面聚焦一致性。

超高压真空锁室：配置多级涡轮分子泵组实现快速换样（<3min）。

低温样品台：配备液氮循环冷却系统实现-180℃低温测试环境。

三维移动样品台：重复定位精度≤0.1μm的压电陶瓷驱动平台。

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件