表面粗糙度试验检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

Ra（算术平均偏差）、Rz（最大高度）、Rq（均方根偏差）、Rt（总高度）、Rp（最大峰高）、Rv（最大谷深）、Rsk（偏斜度）、Rku（陡度）、Rsm（轮廓单元平均宽度）、Rmr（轮廓支承长度率）、Rc（轮廓谷深）、Rdq（动态摩擦系数）、Rδc（相对支承长度）、Rλq（均方根波长）、RΔq（均方根斜率）、Rlo（油膜保持性参数）、Rpc（峰计数）、Rk（核心粗糙度深度）、Mr1（材料率1区）、Mr2（材料率2区）、Vo（油囊体积）、Rvk（缩减的谷深）、Rpk（缩减的峰高）、Wt（波纹度总高度）、Wa（波纹度算术平均值）、Wz（波纹度最大高度）、Pc（峰密度）、Str（表面纹理方向度）、Sal（自相关长度）、Sdr（界面扩展比

检测范围

精密轴承滚道面、发动机缸体内壁、液压阀芯配合面、光学透镜抛光面、半导体晶圆切割面、涡轮叶片气动表面、模具型腔工作面、齿轮啮合齿面、活塞环外圆面、导轨滑动面、密封端面、刀具切削刃口、轴类零件配合面、法兰密封槽底、医疗器械植入表面、PCB板铜箔层、3D打印成型面、金属轧辊工作面、陶瓷基板研磨面、复合材料层压界面、橡胶密封件接触面、螺纹牙型工作面、电镀层截面轮廓、激光熔覆层表面、磁头浮动面、微机电系统组件表面、人工关节球面、太阳能电池硅片表面、燃料电池双极板流道面

检测方法

触针式轮廓法：通过金刚石探针机械扫描表面轮廓，适用于Ra0.01-10μm范围的精密测量。

白光干涉法：利用光学干涉原理重建三维形貌，分辨率达纳米级，适合超光滑表面分析。

激光散射法：基于光散射强度与表面粗糙度的相关性实现非接触测量。

原子力显微镜：原子级分辨率的三维形貌测量技术，适用于纳米级粗糙度表征。

共聚焦显微镜：通过光学切片技术获取高精度三维表面数据。

数字全息术：利用激光全息记录与重建实现动态表面形貌测量。

电容式测量法：基于极距变化引起的电容值变化推算表面粗糙度。

超声波反射法：通过声波反射特性分析评估大尺寸工件表面状态。

检测标准

ISO4287:1997《几何产品规范(GPS)表面结构:轮廓法术语,定义及表面结构参数》
ISO4288:1996《几何产品规范(GPS)表面结构:轮廓法评定表面结构的规则和方法》
GB/T1031-2009《产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值》
ASMEB46.1-2019《表面纹理(表面粗糙度,波纹度和铺纹)》
DINENISO25178-2:2012《几何产品规范(GPS)-表面结构:区域-第2部分:术语,定义及表面结构参数》
JISB0601:2013《产品几何特性规范(GPS)-表面结构:轮廓法-术语,定义及表面结构参数》
ASTMD7127-13《用触针式仪器测量涂层表面粗糙度的标准试验方法》
ISO13565-2:1996《几何产品规范(GPS)表面结构:轮廓法具有分层功能特性的表面第2部分:用线性材料比率曲线表示的高度特性》
GB/T12472-2003《产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法木制件表面粗糙度参数及其数值》
ISO21920-2:2021《几何产品规范(GPS)表面结构:轮廓法第2部分:术语,定义及表面结构参数》

检测仪器

接触式轮廓仪：配备金刚石探针的精密机械扫描系统，典型分辨率0.8nm垂直/0.1μm水平。

白光干涉三维形貌仪：采用LED宽光谱光源实现亚纳米级垂直分辨率。

激光共聚焦显微镜：具备405nm激光光源与压电陶瓷扫描台的空间分辨能力达120nm。

原子力显微镜(AFM)：悬臂探针与光杠杆系统组合实现原子级三维成像。

便携式粗糙度计：集成加速度补偿的现场测量设备，符合IP65防护等级。

三维光学轮廓仪：基于相移干涉技术实现0.01nm垂直分辨率的大视场测量。

工业内窥镜测量系统：配备微型探针的管道内壁专用检测装置。

多传感器测量平台：集成接触式与非接触式探头的复合测量系统。

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件