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中科光析科学技术研究所
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发布时间:2025-05-12
关键词:绿松石检测方法,绿松石检测标准,绿松石检测案例
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
主成分分析:测定铜(Cu)、铝(Al)、磷(P)等主要元素含量及比例
微量元素谱:检测铁(Fe)、锌(Zn)、钡(Ba)等特征元素的分布特征
颜色成因判定:区分天然致色与人工染色工艺的化学差异
优化处理鉴别:识别浸胶、注塑、蜡充填等常见处理痕迹
物理参数测定:包含密度(2.60-2.90g/cm³)、硬度(5-6莫氏)、折射率(1.610-1.650)等基础数据
结构特征分析>:观测铁线分布形态及基质结构致密程度
包裹体鉴定:识别方解石、高岭石等伴生矿物的存在形式
原石类:含围岩标本、风化皮壳样本及矿脉断面样品
雕刻件类:包含圆雕、浮雕及镂空工艺制品的全维度检测
镶嵌首饰类:贵金属镶口与绿松石主体的分离式测试方案
优化处理品:涵盖扎克里法处理品、染色品及复合材料的鉴别
产地溯源样本:湖北竹山、安徽马鞍山、波斯矿区等典型产地的特征比对
仿制品鉴别:包括染色菱镁矿、合成材料及玻璃仿制品的排除性检验
X射线荧光光谱法(XRF):非破坏性定量分析主量元素组成
红外吸收光谱法(FTIR):识别聚合物充填物的特征吸收峰
拉曼光谱技术:微观尺度解析矿物相组成及结构缺陷
紫外-可见分光光度法:测定致色离子的电子跃迁特征谱带
显微放大观察法:60-200倍立体显微镜下观测表面结构特征
静水力学称重法:精确测定样品密度值及其分布均匀性
激光剥蚀等离子体质谱(LA-ICP-MS):微量元素指纹图谱构建技术
阴极发光技术(CL):揭示晶体生长纹及后期改造痕迹的成像分析
X射线荧光光谱仪:配备Rh靶光源及硅漂移探测器系统
傅里叶变换红外光谱仪:配置金刚石池ATR附件及低温冷却装置模块组
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