远场发散角:指激光光束在远场条件下,其光斑尺寸随传播距离线性增大的角度,是评价光束平行性的核心参数。
近场发散角:指在光束束腰附近区域测量得到的发散角,与激光器谐振腔模式密切相关。
光束质量因子M²:通过测量束腰宽度和发散角计算得出,是评价光束接近衍射极限程度的国际通用标准。
束腰位置与尺寸:精确测定光束最窄处(束腰)的空间位置及其直径,是计算发散角的基础。
光束参数积:束腰半径与远场发散半角的乘积,是一个在理想光学系统中保持不变的量。
X轴与Y轴发散角:分别测量光束在水平(X)和垂直(Y)方向上的发散角,用于分析像散光束。
全角与半角发散角:区分光束能量分布的全角宽度和半高全宽对应的半角宽度。
动态发散角变化:监测激光器在长时间工作或不同功率下,光束发散角的稳定性与变化趋势。
空间强度分布:测量光束横截面的能量分布,如高斯分布、平顶分布等,直接影响发散角的定义和测量。
像散与彗差评估:检测光束因像散等像差导致的不同方向发散角不一致的现象。
连续波激光器:适用于测量各种功率等级的连续输出激光器的稳态光束发散特性。
脉冲激光器:可检测纳秒、皮秒乃至飞秒脉冲激光的单脉冲或平均光束发散角。
可见光至红外波段:检测范围通常覆盖从可见光到近红外、中红外等常见激光波长。
单模与多模激光:既能评估单模高斯光束的发散角,也能分析多模光束的整体发散特性。
低功率与高功率激光:通过搭配适当的衰减器,可测量从毫瓦级到千瓦级功率激光的光束参数。
光纤输出激光:针对光纤耦合输出的激光,测量其出射端面的光束发散角,评估光纤端面质量与耦合效率。
激光二极管与VCSEL:特别适用于测量快轴和慢轴发散角差异巨大的半导体激光光源。
激光加工头出射光束:用于评估激光焊接、切割等加工系统中,聚焦头出射光束的实际发散状况。
空间光通信光束:检测用于自由空间光通信的激光光束发散角,以确保对准和传输效率。
光学天线与准直系统:评估各类准直镜、扩束镜和光学天线对激光光束发散角的改善效果。
移动刀口法:使用刀口扫描光束截面,通过测量光强变化曲线来推算光束宽度和发散角。
移动狭缝法:原理与刀口法类似,利用狭缝扫描,适用于测量较小光斑。
CCD相机成像法:最直观的方法,使用CCD相机在不同距离处拍摄光斑图像,通过图像处理计算尺寸和发散角。
可变孔径法:通过改变孔径大小并测量通过的光功率,来反演光束的宽度参数。
双位置测量法:在已知距离差的两个位置上测量光束直径,通过几何关系直接计算远场发散角。
多位置拟合法:在多个不同传播距离上测量光束直径,通过双曲线拟合精确得到束腰位置、尺寸及发散角。
M²测量仪法:使用专用的M²测量仪,自动沿光轴移动探测器,完成一系列测量并直接计算M²因子和发散角。
傅里叶变换法:利用透镜的傅里叶变换特性,在透镜后焦面上测量得到远场光强分布,从而计算发散角。
自相关法:主要用于超短脉冲激光,通过测量光束的空间自相关函数来获得光束参数。
哈特曼波前传感法:通过测量光束的波前相位分布,间接推导出光束的传播特性,包括发散角。
光束质量分析仪:集成CCD相机、衰减系统和分析软件的正规仪器,可自动完成发散角、M²等全套测量。
科学级CCD/CMOS相机:高分辨率、高动态范围的面阵探测器,用于精确捕获光束横截面强度分布图像。
光电功率计/能量计:作为辅助测量设备,用于在刀口法、孔径法JianCe测透过光功率的变化。
精密电动平移台:用于精确移动刀口、狭缝或探测器,实现自动化扫描测量。
可调衰减器组:用于将高功率激光衰减到探测器安全工作的范围内,避免饱和或损坏。
长焦距准直透镜:用于产生近似平行光或进行光束变换,辅助测量。
红外观察器或热像仪:用于观测和测量不可见红外激光的光斑形状与位置。
光束采样器与分束器:在不严重影响主光束的情况下,分取出小部分光用于测量。
多轴调整架与光学平台:提供稳定、精确的光学机械基础,确保光路准直和测量重复性。
专用分析软件:控制硬件、采集数据、处理图像、拟合曲线并最终计算和报告所有光束参数的核心。
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