紫外-可见-近红外光谱透过率:测量晶体在200nm至2500nm波长范围内的透光性能,评估其基础光学窗口。
特定激光波长透过率:针对常见激光波长(如1064nm, 1342nm, 946nm等)进行精确点测,评估其作为激光基质的适用性。
吸收系数计算:根据透过率数据和晶体厚度,计算特定波长下的吸收系数,量化其内部损耗。
吸收边位置确定:确定晶体透过率急剧下降的短波截止边,分析其带隙结构信息。
光谱均匀性扫描:对晶体不同区域进行透过率扫描,评估其光学均匀性及内部缺陷分布。
温度依赖性透过率:在不同温度环境下测试透过率,研究温度对晶体光学性能的影响。
辐照诱导吸收测试:测量晶体在特定辐照(如γ射线)前后的透过率变化,评估其抗辐照性能。
表面散射损耗评估:通过对比抛光前后或不同表面质量样品的透过率,分离表面散射贡献。
偏振相关透过率:对于各向异性双钨酸盐晶体,测试不同偏振方向光入射时的透过率差异。
长期稳定性监测:对晶体在特定环境(如湿度、空气)中存放前后的透过率进行跟踪测试。
稀土掺杂双钨酸盐晶体:如Nd:KGd(WO4)2, Yb:KLu(WO4)2等,评估其作为激光增益介质的光学质量。
纯基质双钨酸盐晶体:如KGd(WO4)2, KY(WO4)2等,研究其本征光学特性。
不同掺杂浓度系列晶体:测试同一基质不同稀土离子掺杂浓度晶体的透过率,优化掺杂水平。
不同生长方法制备的晶体:对比提拉法、助熔剂法等不同方法生长晶体的光谱透过性能。
不同结晶取向切割的晶片:针对各向异性晶体,测试沿a, b, c或Ng, Nm, Np主轴切割样品的透过率。
不同厚度规格的样品:从薄片(0.5mm)到厚块(10mm),研究厚度对测量结果及吸收系数计算的影响。
经过退火处理的晶体:对比退火前后晶体的透过率变化,评估退火工艺对消除色心、改善性能的效果。
镀膜与未镀膜样品:测试晶体端面镀增透膜前后的透过率,评估镀膜质量及减反射效果。
不同供应商或批次晶体:进行来料检验或对比研究,确保晶体材料的光学性能一致性。
特种双钨酸盐固溶体晶体:如混合阳离子或阴离子的固溶体,探索其光谱透过特性规律。
分光光度计直接测量法:使用紫外-可见-近红外分光光度计,以空气或空样品架为参比,直接测得样品的透射光谱。
双光束差分测量法:采用双光路分光光度计,一束光通过样品,另一束为参比,自动扣除光源波动和背景噪声。
绝对透过率测量法:通过精确测量入射光强和透射光强,计算绝对透过率,要求高精度探测器与光路校准。
相对透过率测量法:以已知透过率的标准样品(如石英片)为基准,进行对比测量,适用于快速比较。
积分球收集法:对于散射较强的样品或需要测量总透射(直透+散射)时,使用积分球收集所有透射光信号。
偏振光谱测量法:在光路中插入起偏器和检偏器,测量晶体对不同偏振态光的透过率。
变温原位测量法:将样品置于配备温控装置的样品室中,实现不同温度下的光谱透过率原位测试。
空间扫描映射法:通过移动样品台或光束,对晶体表面进行逐点扫描,获得二维透过率分布图。
激光量热法间接评估:通过测量晶体吸收激光能量后的温升,间接推算出在激光波长处的吸收损耗。
光谱拟合与反演法:结合透射光谱和反射光谱数据,通过物理模型拟合,反演出更精确的吸收系数和折射率等参数。
紫外-可见-近红外分光光度计:核心设备,覆盖宽光谱范围,具备高波长精度和光度重复性,用于基础透过率测试。
傅里叶变换红外光谱仪:用于中远红外波段(如2.5μm以上)的透过率测试,研究晶体的声子吸收特性。
可调谐激光光源系统:提供高单色性、高亮度的连续可调谐激光,用于特定波长的精密点测和吸收系数标定。
高灵敏度光电探测器: 如硅探测器、InGaAs探测器、液氮制冷锗探测器等,覆盖不同波段,用于微弱光信号的探测。
积分球附件: 与分光光度计联用,用于测量漫透射、总透射或高散射样品的透过率。
精密偏振器件: 包括格兰棱镜、线栅偏振器等,用于构建偏振测量光路。
温控样品室: 可实现从液氮温度至数百度高温的精确控温,用于变温光谱研究。
精密多维调整架与样品台: 用于精确固定、对准和移动晶体样品,确保测量位置和角度的准确性。
标准参考样品组: 包括已知透过率的校准滤光片、标准白板、黑阱等,用于仪器校准和测量验证。
光谱数据采集与处理软件: 控制仪器运行,采集原始数据,并进行基线校正、平滑、计算吸收系数等后续处理。
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8、寄送报告原件
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