二阶非线性光学系数d36:测量晶体在特定相位匹配条件下,对基频光产生倍频光的核心效率参数。
相位匹配角:确定晶体实现最大倍频效率时,入射光束与晶体光轴之间的夹角。
有效非线性系数deff:在具体相位匹配配置下,实际参与非线性相互作用的系数值。
折射率温度系数:评估晶体折射率随温度变化的程度,影响相位匹配的温度稳定性。
表面加工质量:检查晶体通光面的面形精度、光洁度及平行度,其对测量准确性有直接影响。
光学均匀性:检测晶体内部折射率分布的均匀程度,不均匀性会导致波前畸变和转换效率下降。
激光损伤阈值:测定晶体在高功率激光照射下抵抗永久性光学损伤的能力。
吸收系数:在基频光和倍频光波长下,测量晶体的线性光学吸收损耗。
角度调谐曲线:通过改变入射角,测量倍频输出功率的变化曲线,用于反演非线性系数。
温度调谐曲线:通过改变晶体温度,测量倍频输出功率的变化,用于分析温度敏感性和验证系数。
波长范围:覆盖从近红外(如1064 nm)到中红外(如3-5 μm)的基频光及其对应的倍频光波长。
温度范围:通常在室温附近进行,并扩展至-20°C 到 80°C 以考察温度依赖性。
晶体取向范围:围绕相位匹配角进行±5°以上的角度扫描,以获取完整的调谐曲线。
功率范围:从毫瓦级到瓦级甚至更高功率的基频激光输入,以评估线性与非线性响应区域。
光束直径范围:使用从几百微米到几毫米不同尺寸的光斑,评估孔径效应和均匀性影响。
样品厚度范围:针对不同长度的晶体样品(如1mm至10mm)进行测量,分析长度对转换效率的影响。
偏振方向范围:涵盖o光(寻常光)和e光(非寻常光)的不同输入与输出偏振组合。
空间分布范围:对晶体通光面不同区域进行扫描测量,评估非线性系数的空间均匀性。
重复频率范围:针对连续激光与不同重复频率(如10Hz-1kHz)的脉冲激光进行测试。
脉冲宽度范围:适用于纳秒、皮秒等不同脉冲宽度的激光源,考虑峰值功率效应。
Maker条纹法:通过旋转晶体产生周期性振荡的倍频信号条纹,直接绝对测量二阶非线性系数。
相对测量法(参比法):以已知非线性系数的标准晶体(如KDP)为参考,通过比较倍频信号强度进行相对测量。
角度相位匹配法:精细调节晶体角度至相位匹配条件,测量最大倍频输出功率,用于计算有效非线性系数。
温度相位匹配法 Z扫描技术:通过测量晶体在激光焦点附近移动时透射率的变化,间接评估非线性折射与吸收。 干涉测量法:利用干涉仪检测晶体波前畸变,评估其光学均匀性和面形精度。 分光光度法:使用紫外-可见-红外分光光度计测量晶体在宽谱范围内的线性吸收光谱。 激光量热法:通过精确测量激光照射引起的温升,计算晶体的体吸收系数。 S-on-1激光损伤测试:对同一晶点进行多次激光辐照,统计确定其激光诱导损伤阈值。 偏振相关透射测量:使用起偏器和检偏器组合,精确控制与测量入射光和出射光的偏振状态。 调Q脉冲Nd:YAG激光器:提供高峰值功率的1064 nm基频光,是进行倍频效率测试的常用光源。 可调谐中红外光学参量振荡器:产生覆盖中红外波段的可调谐激光,用于测试晶体在该波段的本征非线性响应。 高精度旋转台 高灵敏度光电探测器:用于探测微弱的倍频信号,需覆盖紫外到中红外的响应波段,如硅光电二极管、铟镓砷探测器等。 锁相放大器:与斩波器配合使用,从噪声中提取微弱的倍频电信号,极大提高信噪比。 光谱分析仪或单色仪:用于确认输出信号波长是否为准确的倍频光,排除荧光等杂散光干扰。 精密功率/能量计:分别测量基频光的输入功率/能量和倍频光的输出功率/能量,计算转换效率。 恒温箱或帕尔贴温控架 偏振光学元件包括格兰棱镜、波片等,用于精确控制入射激光的偏振方向。 1、咨询:提品资料(说明书、规格书等) 2、确认检测用途及项目要求 3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息) 4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测) 5、收到样品,安排费用后进行样品检测 6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误 7、确认完毕后出具报告正式件 8、寄送报告原件检测仪器设备
检测流程
第三方检测机构,国家高新技术企业,工程师科研团队,国内外先进仪器!