表面电阻率:测量颗粒表面两点间单位面积上的电阻,是评价其表面导电能力的基础指标。
体积电阻率:测量颗粒内部单位体积的电阻,用于评估材料整体的导电性能和抗静电持久性。
静电半衰期:测量施加的静电荷衰减至其初始值一半所需的时间,直接反映材料的静电消散速度。
摩擦起电电压:模拟颗粒在特定条件下摩擦后产生的静电压值,评估其在动态过程中的起电倾向。
电荷衰减特性:全面分析静电荷从产生到完全消散的整个衰减过程曲线。
石墨分散均匀性:评估作为导电介质的石墨在聚苯乙烯基体中的分布状态,直接影响性能均一性。
含水率:测量颗粒的含水量,因为水分会显著影响材料的导电性和测试结果的准确性。
堆积密度:测量颗粒在自然堆积状态下的密度,与测试时的样品制备和接触状态相关。
静电屏蔽效能:评估材料对外部静电场的屏蔽能力,对于高端防静电应用至关重要。
环境适应性(温湿度):测试在不同温度和相对湿度条件下,材料抗静电性能的稳定性。
普通石墨EPS颗粒:适用于常规掺混石墨的普通可发性聚苯乙烯颗粒。
高浓度石墨EPS颗粒:适用于石墨含量较高、旨在获得更低电阻率的特种颗粒。
纳米石墨复合EPS颗粒:适用于采用纳米石墨或改性石墨作为导电填料的先进复合材料颗粒。
不同粒径规格EPS颗粒:适用于从细粉到标准发泡粒径等不同粒度范围的颗粒样品。
预发泡后EPS珠粒:适用于经过预发泡工艺处理后的珠粒,其形态和性能与原始颗粒不同。
模塑成型EPS制品取样:适用于从最终模塑成型制品上取样制成的颗粒状测试样本。
不同生产批次EPS颗粒:适用于对同一型号产品不同生产批次的样品进行质量一致性检验。
新旧原料混合颗粒:适用于评估回收料与新料混合后颗粒的抗静电性能变化。
添加其他助剂的复合颗粒:适用于除石墨外还添加了阻燃剂、润滑剂等其他功能助剂的复合颗粒。
研发阶段实验样品:适用于实验室研发的新型配方或工艺制备的小批量样品性能评估。
GB/T 1410-2006 电阻测量法:采用国标规定的电极系统和测量程序,测量表面及体积电阻率。
ASTM D257-14 绝缘材料直流电阻测试:遵循美国材料与试验协会标准,使用保护电极技术进行精确测量。
GB/T 12703.4-2010 静电半衰期法:通过电晕放电对样品充电,测量电荷衰减至一半所需时间。
JIS L1094 摩擦起电电压测试法:使用标准摩擦布与样品摩擦,测量产生的最大静电压。
IEC 61340-2-1 电荷衰减测量:依据国际电工委员会标准,使用非接触式电场计监测电荷衰减全过程。
显微镜观察与图像分析法:采用光学或电子显微镜观察石墨分散情况,并用软件进行定量分析。
GB/T 6284-2006 干燥失重法测含水率:通过加热前后质量差计算颗粒的含水率。
GB/T 1636-2008 塑料表观密度测定:使用标准量筒和漏斗,测量颗粒的自然堆积密度。
法拉第筒法测屏蔽效能:将样品置于法拉第筒内,通过测量内外场强变化计算屏蔽效能。
恒温恒湿箱环境处理法:将样品置于不同温湿度条件的恒温恒湿箱中处理规定时间后,立即进行性能测试。
高阻计/绝缘电阻测试仪:用于精确测量高电阻材料的表面电阻率和体积电阻率,量程通常高达10^16 Ω。
静电衰减测试仪:集成高压充电装置和电场传感器,可自动测量并记录静电半衰期及衰减曲线。
摩擦起电测试装置:包含标准摩擦材料、摩擦机构及高精度静电电压表,用于模拟摩擦起电过程。
法拉第筒与静电计组合:用于测量样品的带电量及评估屏蔽效能的基本装置。
数字式微量水分测定仪:采用卡尔·费休法或加热失重法,精确测定颗粒中的微量水分含量。
扫描电子显微镜:用于高倍率观察石墨在聚苯乙烯基体中的微观分散形态和界面结合情况。
体积表面电阻率测试电极:三电极系统(主电极、保护电极、环形电极),是执行标准电阻测试的关键夹具。
恒温恒湿试验箱:提供稳定且可控的温度和湿度环境,用于样品测试前的状态调节或环境适应性测试。
标准筛分仪与振筛机:用于对颗粒样品进行分级,确保测试样品粒径范围一致,减少误差。
精密电子天平:用于称量样品质量,在含水率、堆积密度等测试中提供精确的质量数据。
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件
第三方检测机构,国家高新技术企业,工程师科研团队,国内外先进仪器!