平均粒径:表征样品中颗粒尺寸的集中趋势,通常报告为体积平均、数量平均或强度平均直径。
粒径分布宽度:描述颗粒尺寸的离散程度,常用多分散指数或跨度等参数定量表示。
分布曲线与直方图:以图形化方式直观展示不同尺寸颗粒的相对含量或体积分数。
D10, D50, D90值:累积分布中的关键百分位数,分别代表累计达到10%、50%和90%时所对应的粒径值。
比表面积:基于粒径分布数据通过模型计算得出的单位质量颗粒的总表面积,与粒径成反比。
Zeta电位:测量颗粒表面电荷特性,间接反映分散体系的稳定性,对制备和储存至关重要。
团聚状态评估:分析测试结果中是否存在二次团聚体,区分原生粒径与团聚体尺寸。
形貌与均匀性分析:结合成像技术,评估颗粒是否为球形、棒状或无定形,以及形状的均一性。
晶体尺寸分析:通过X射线衍射等技术测定晶粒大小,可能与单个颗粒的物理尺寸存在差异。
化学成分确认:确保被测颗粒为目标金属氧化物,并检测表面修饰或掺杂元素的存在。
常见金属氧化物:如二氧化钛、氧化锌、氧化铁、氧化铝、氧化硅、氧化铜等纳米粉体及分散液。
复合与掺杂氧化物:包括稀土掺杂、贵金属负载或多种金属元素复合形成的纳米材料。
核壳结构材料:具有特殊包覆结构的纳米颗粒,需要区分核心与壳层的尺寸贡献。
纳米涂层与薄膜:附着在基底上的纳米氧化物涂层,需采用特殊制样方法进行测试。
催化材料:用于催化领域的负载型或非负载型纳米金属氧化物催化剂。
生物医用纳米颗粒:经过表面功能化、用于药物递送或成像的氧化铁等生物相容性纳米颗粒。
浆料与悬浮液:各种溶剂(水、有机溶剂)中分散的纳米氧化物浆料,需关注其原位状态。
气溶胶颗粒:空气中或特定气氛下生成的纳米级金属氧化物气溶胶的在线或离线分析。
前驱体与中间产物:在合成过程中不同阶段取样,监测粒径演变过程。
工业品与消费品:如防晒霜中的纳米二氧化钛、涂料中的纳米填料等成品中的氧化物颗粒。
动态光散射法:通过分析颗粒布朗运动引起的散射光波动来测量流体力学直径,适用于分散良好的胶体溶液。
激光衍射法:基于夫琅禾费衍射或米氏散射理论,测量角度依赖的散射光强分布,反演得出粒径分布,测量范围宽。
X射线衍射法:利用Scherrer公式根据衍射峰宽化计算晶粒尺寸,反映的是晶体学意义上的尺寸。
透射电子显微镜法:直接成像观察颗粒的形貌、尺寸和分布,提供最直观的信息,属于绝对测量方法。
扫描电子显微镜法:提供颗粒表面形貌和尺寸信息,对于亚微米至纳米级颗粒需配合场发射电子枪。
原子力显微镜法:通过探针扫描获得颗粒的三维形貌和高度信息,特别适合基底表面的颗粒分析。
静态光散射法/小角X射线散射法:测量散射光强随角度的变化,适用于分析粒径分布及形状,SAXS尤其适合1-100 nm范围。
离心沉降法:根据斯托克斯定律,在离心力场下不同尺寸颗粒沉降速度不同,从而得到粒径分布。
电泳光散射法:结合电泳技术与光散射,用于测量纳米颗粒的Zeta电位及表观粒径。
图像分析法:对TEM、SEM或AFM获得的图像进行数字化处理,统计大量颗粒的尺寸,得到数量分布。
动态光散射仪:核心设备用于测量纳米颗粒在溶液中的流体力学直径及分布,自动化程度高,速度快。
激光粒度分析仪:基于激光衍射原理,通常集成了湿法和干法进样系统,测量范围从纳米到毫米级。
透射电子显微镜:高分辨率成像设备,配备能谱仪后可同时进行形貌观察、尺寸测量和成分分析。
扫描电子显微镜:用于观察颗粒表面微观形貌和团聚状态,环境扫描电镜可观测含水样品。
原子力显微镜:提供纳米级三维形貌图像,可在空气或液体环境中操作,对样品导电性无要求。
X射线衍射仪:用于物相鉴定和基于Scherrer公式的晶粒尺寸计算,是材料晶体结构分析的基础设备。
小角X射线散射仪:专门用于研究纳米尺度结构(1-100 nm)的统计信息,可获得比表面积、粒径分布等数据。
离心沉降式粒度仪:通过高速离心增强沉降分离效果,适用于高密度金属氧化物纳米颗粒的精细分级。
Zeta电位及纳米粒度分析仪:集成DLS和电泳光散射技术,可同时测量粒径分布和Zeta电位。
图像分析系统:由高分辨率数码相机和正规图像处理软件组成,用于对电子显微镜图片进行批量颗粒统计分析。
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