粒度分布曲线:表征不同粒径颗粒在样品总体中的累积或频率分布情况,是核心分析图表。
中位粒径(D50):表示样品中累计分布达到50%时所对应的粒径值,是衡量平均颗粒大小的关键指标。
特征粒径D10:表示累计分布达到10%时所对应的粒径,反映样品中细颗粒部分的临界尺寸。
特征粒径D90:表示累计分布达到90%时所对应的粒径,反映样品中粗颗粒部分的临界尺寸。
粒径跨度:通常通过(D90-D10)/D50计算,用于评价粒度分布的宽窄程度,跨度越小分布越集中。
比表面积:单位质量颗粒的总表面积,与粒度大小和形状密切相关,影响母料在基体中的分散性与活性。
体积平均粒径:基于颗粒体积统计的平均粒径,对较大颗粒的存在更为敏感。
数量平均粒径:基于颗粒数量统计的平均粒径,对细小颗粒的存在更为敏感。
模态粒径:在频率分布图中出现最高峰时所对应的粒径,即最频粒径。
特定粒径区间占比:分析指定粒径范围(如<2μm, >45μm等)的颗粒体积或数量百分比,满足特定应用要求。
常规母料样品:针对不同硅灰石含量(如30%-80%)的聚丙烯(PP)、聚乙烯(PE)等通用塑料填充母料。
超细及纳米级母料:适用于经过特殊研磨或表面处理,粒径在微米级以下甚至纳米级的硅灰石填充母料。
改性功能母料:包含经偶联剂、分散剂等表面改性处理的硅灰石填充母料,评估改性对团聚体粒度的影响。
不同生产工艺样品:涵盖双螺杆挤出、密炼、开炼等不同加工工艺制得的母料粒子或破碎样。
母料粒子与粉末:既可检测直接造粒后的母料粒子(需前处理),也可检测用于造粒前的硅灰石预混粉末原料。
湿法工艺样品:适用于采用湿法复合工艺制备的浆料或干燥后的母料样品。
回收再生母料:对使用回收塑料或回收硅灰石制备的填充母料进行粒度分布评估。
不同应用领域母料:覆盖用于汽车配件、家电外壳、管材、薄膜等不同终端产品的专用硅灰石填充母料。
批次对比样品:用于同一生产线不同批次间,或不同供应商来料的质量稳定性对比检测。
研发过程样品:在配方研发、工艺优化过程中,跟踪评估硅灰石分散状态与粒度变化的小试、中试样品。
激光衍射法:最常用的方法,基于颗粒对激光的散射角度与粒径相关的原理,测量范围宽,重复性好。
动态图像分析法:通过高速相机捕捉流动中颗粒的二维图像,直接测量颗粒的投影面积直径和形貌。
动态光散射法:主要用于纳米及亚微米级样品的检测,通过分析颗粒布朗运动引起的散射光波动来测定粒径。
筛分法:传统机械筛分方法,适用于较粗颗粒(通常大于38μm)的干筛或湿筛分析,结果以重量分布表示。
离心沉降法:基于斯托克斯定律,根据颗粒在离心力场中的沉降速度来测定粒径分布,适合高浓度或高密度样品。
电感应法(库尔特原理):颗粒通过小孔时引起电阻变化,其脉冲幅度与颗粒体积成正比,精度高但测量速度较慢。
超声衰减法:利用超声波在悬浮液中传播的衰减谱反演计算粒度分布,适合高浓度在线检测。
干法分散进样:采用压缩空气将干燥的母料粉末或破碎粒子直接分散并送入检测区,避免溶剂影响。
湿法分散进样:将样品置于合适的分散剂(如乙醇、水加分散剂)中,经超声振荡分散后循环测量,确保充分解团聚。
显微镜法结合图像处理:使用光学显微镜或电子显微镜观察样品,通过正规图像分析软件统计大量颗粒的粒度与形貌,作为辅助验证手段。
激光粒度分析仪:核心设备,集成了激光器、探测器、样品池和数据处理软件,实现快速自动化的粒度分析。
干法分散进样器:与激光粒度仪配套,提供稳定可控的压缩空气流,实现干粉样品的自动分散与输送。
湿法循环分散进样系统:包括搅拌器、超声槽、循环泵和样品池,确保湿法测量时样品均匀悬浮且无气泡。
动态图像分析仪:由高速相机、流动样品池、高倍镜头和图像分析软件组成,用于同时分析粒度和形状。
纳米粒度及Zeta电位分析仪:基于动态光散射和电泳光散射原理,专门用于亚微米及纳米级颗粒的粒度和表面电荷分析。
标准振筛机:用于筛分法,通过机械振动或拍击使样品通过一系列标准筛网,实现分级。
离心沉降式粒度仪:配备高速离心机和光学检测系统,用于测量亚微米级颗粒的沉降速度并计算粒度分布。
超声波清洗机/细胞破碎仪:用于湿法样品的前处理,通过超声波能量强力分散样品中的团聚体。
精密电子天平:用于准确称量样品质量,尤其在筛分法或配置特定浓度悬浮液时必不可少。
烘箱与干燥器:用于去除样品中的水分,确保干法测量结果的准确性,以及湿法测量后仪器的干燥保养。
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