表面电阻率:测量材料表面的电阻值,是评估其导电性能的基础指标,直接影响电荷耗散能力。
体积电阻率:测量材料内部的电阻特性,用于评估其整体导电均匀性和深层屏蔽潜力。
电磁屏蔽效能(SE):核心检测项目,定量评估材料对特定频段电磁波的衰减能力,通常以分贝(dB)表示。
屏蔽效能频率特性:测试材料在不同频率(如30MHz-1.5GHz)下的屏蔽效能变化,绘制SE-频率曲线。
近场屏蔽效能:评估材料对靠近辐射源(如芯片、线路)产生的电磁场的屏蔽能力。
远场屏蔽效能:评估材料对来自远距离辐射源的平面电磁波的屏蔽能力。
屏蔽均匀性:检测材料表面不同位置的屏蔽效能,评估其导电填料分布的均匀性。
环境适应性后的屏蔽效能:测试材料在经过温湿度循环、盐雾、紫外老化等环境试验后的屏蔽性能保持率。
机械性能影响评估:考察材料在弯曲、拉伸、冲击等机械作用后,其导电网络完整性及屏蔽效能的变化。
填料分散性分析:通过微观或电学方法间接评估导电填料(如碳纤维、金属粉)在塑料基体中的分散状态。
导电工程塑料:如导电PEEK、尼龙(PA)、聚碳酸酯(PC)等,用于高强结构件兼需电磁屏蔽的场合。
导电热塑性复合材料:以PP、ABS等为基体,填充碳系或金属系填料的注塑成型材料。
电磁屏蔽外壳与罩体:用于电子设备、通讯机柜、医疗仪器的导电塑料成型外壳。
集成电路载具与托盘:在半导体制造、运输和测试过程中用于静电防护和电磁屏蔽的塑料载具。
电缆屏蔽层与连接器:采用导电塑料制成的电缆屏蔽套管或连接器外壳。
航空航天内饰件:飞机、卫星内部兼具轻量化和电磁兼容要求的导电塑料部件。
汽车电子部件:如新能源车电池管理系统外壳、车载娱乐系统屏蔽罩等。
军用设备防护壳体:对电磁脉冲(EMP)或高强度射频干扰有防护要求的军用设备外壳。
医用电子设备外壳:防止外部电磁干扰影响设备精度,同时防止设备辐射外泄的壳体。
消费电子产品部件:如手机中框、笔记本电脑内部支架等兼具结构支撑和电磁屏蔽功能的部件。
同轴传输线法(ASTM D4935):标准方法,使用法兰式同轴夹具测量平面材料在30MHz-1.5GHz频段的远场屏蔽效能。
屏蔽室法(MIL-STD-285/ IEEE 299):在大型屏蔽室内,通过天线辐射和接收,测量大尺寸样品或完整机箱的屏蔽效能。
双盒法(Dual Chamber):将样品置于两个隔离的金属腔体之间,测量从一侧腔体泄漏到另一侧的电磁能量。
时域法(TDR):利用时域反射技术,通过分析脉冲信号的反射和传输特性来评估材料的屏蔽特性。
四探针法:用于精确测量片状或薄膜状导电塑料的表面电阻率,避免接触电阻影响。
涡流法:非接触式测量方法,利用探头产生的高频磁场在材料中感生涡流来反推其导电率和屏蔽性能。
近场探头扫描法:使用磁近场探头或电近场探头对工作状态的PCB或部件表面的近场辐射进行扫描,评估局部屏蔽效果。
GTEM小室法:使用吉赫兹横电磁波(GTEM)小室产生均匀场,快速测量中小型样品的辐射敏感度和屏蔽效能。
法兰对法兰波导法:适用于高频段(如1GHz以上)的测试,将样品置于两个波导法兰之间进行测量。
静电衰减法(ASTM F150):通过测量材料表面静电荷衰减到一定比例所需的时间,间接评估其静电屏蔽和耗散能力。
矢量网络分析仪(VNA):核心设备,用于测量材料的S参数(散射参数),并计算得出屏蔽效能,覆盖宽频带。
同轴法兰测试夹具:与VNA配套使用,用于执行ASTM D4935标准测试,固定平面样品并形成传输线结构。
屏蔽效能测试系统(集成式)
频谱分析仪与信号源:用于构建辐射发射和接收测试系统,配合天线进行屏蔽室法或GTEM小室法测试。
四探针电阻测试仪:专门用于精确测量薄膜或片材的表面电阻/方阻。
高阻计/绝缘电阻测试仪
GTEM小室:产生标准电磁场环境的锥形传输室,用于辐射抗扰度和屏蔽效能的快速测试。
近场探头套装
环境试验箱
材料试验机
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
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4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
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6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件
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