物相定性分析:通过比对实验衍射图谱与标准粉末衍射卡片数据库,确定样品中存在的结晶物相种类。该分析是材料成分鉴定的基础步骤。
物相定量分析:基于各物相衍射峰的强度信息,采用如Rietveld精修等方法计算多相混合物中各结晶相的相对含量或绝对含量。
晶格参数精确测定利用高角度衍射峰的精确位置数据,通过最小二乘法等计算单胞的晶格常数(a,b,c,α,β,γ)。这对于研究固溶体、热膨胀系数至关重要。
晶体结构解析与精修:对于未知结构的晶体,通过分析衍射点的三维坐标和强度,求解原子在单胞内的位置、占位度及各向异性温度因子等参数。
结晶度计算:通过分离并比较非晶散射背底与结晶衍射峰的积分面积,定量评估部分结晶材料(如聚合物、药物)的结晶程度。
微观应变与晶粒尺寸分析:根据衍射峰的展宽效应,使用Scherrer公式或Williamson-Hall等方法分离并计算样品中由晶粒细化和微观应变引起的峰形变化。
织构与择优取向分析:测量多晶材料中各晶粒取向的分布情况,通过极图或反极图表征材料的各向异性,常用于研究轧制板材或沉积薄膜。
残余应力测定基于衍射峰位随样品取向变化的偏移量(sin²ψ法),计算材料表层或内部存在的宏观残余应力大小和方向。
高温/低温原位结构分析:在可控温度环境下采集衍射数据,研究材料在升降温过程中的相变行为、热膨胀特性以及结构稳定性。
薄膜厚度与界面结构分析:利用X射线反射率或掠入射衍射技术,表征薄膜材料的厚度、密度、表面粗糙度以及薄膜与衬底间的界面结构信息。
金属及合金材料:包括钢铁、铝合金、钛合金等,用于分析相组成、析出相鉴定、热处理工艺效果评估以及残余应力状态。
无机非金属材料:涵盖陶瓷、玻璃陶瓷、水泥熟料、矿物粉末等,主要用于物相鉴定、晶体结构确定及烧结过程机理研究。
半导体材料:应用于硅片、砷化镓、氮化镓等单晶或多晶半导体,检测外延层质量、晶格失配度以及缺陷密度。
功能陶瓷与铁电材料:如压电陶瓷PZT、微波介质陶瓷等,用于研究其晶体结构与宏观性能(如介电、压电性)的构效关系。
催化剂材料:包括分子筛、金属氧化物催化剂等,通过原位XRD观察其在反应条件下的活性相变和结构演变过程。
制药与药物多晶型:对原料药及其制剂进行多晶型筛查与定量分析,确保药物具有正确的晶型以保证其生物利用度和稳定性。
高分子聚合物:用于测定半结晶聚合物的结晶度、晶体形态(如α,β晶型)以及拉伸过程中的取向变化。
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