因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。
检测项目
电容量偏差、损耗角正切值（tanδ）、直流漏电流、等效串联电阻（ESR）、阻抗频率特性、额定电压耐受性、反向电压承受能力、高温负荷寿命（85℃/125℃）、温度循环试验（-55℃~125℃）、湿度负荷试验（85℃/85%RH）、耐焊接热测试、机械冲击试验（1500G）、振动试验（10~2000Hz）、端子强度测试（拉力/推力）、外观检查（裂纹/变形）、X射线内部结构分析、阴极二氧化锰层厚度测量、阳极钽粉比容测定、封装气密性测试（氦质谱法）、绝缘电阻（500VDC）、恢复电压特性、浪涌电流承受能力、高温贮存特性（175℃）、低温启动性能（-65℃）、可燃性测试（UL94）、可焊性评估（润湿平衡法）、端子镀层成分分析（EDS）、加速寿命试验（3倍额定电压）、失效模式分析（FMA）、微观结构观测（SEM）
检测范围
CAK45型树脂封装钽电容、CT41型模压封装钽电容、TAC系列轴向引线式钽电容、SMD贴片式A壳规格钽电容、高可靠军品级TAJ系列钽电容、低ESR有机聚合物混合钽电容、耐高温液态电解质钽电容、超小型0201封装钽电容、多阳极阵列式钽电容组、抗振型环氧灌封钽电容模块、高容量卷绕式钽电解电容器、耐反向电压双极性钽电容、低漏电流医疗级钽电容、汽车电子用AEC-Q200认证钽电容、航天级真空密封钽电容组件、射频滤波用高频低阻抗钽电容、脉冲功率型储能钽电容组、抗硫化处理工业级钽电容、三端子噪声抑制型钽电容阵列、基板埋入式微型化钽电容元件
检测方法
1.电容量测量采用LCR数字电桥法（20Hz~100kHz），依据额定电压的10%偏置条件进行
2.漏电流测试执行恒压法（25℃3℃），施加1.1倍额定电压保持120秒后读数
3.ESR测定使用四端对开尔文连接方式，在100kHz频率下测量交流阻抗实部
4.高温负荷试验采用强制对流恒温箱（125℃2℃），施加1.5倍额定电压持续1000小时
5.X射线检查使用微焦点CT系统（分辨率≤5μm），三维重构内部电极结构完整性
6.气密性检测采用氦质谱检漏仪（灵敏度≤510^-9Pam/s），真空室加压至0.5MPa氦气
7.机械冲击测试依据半正弦波冲击波形（峰值加速度1500G/0.5ms），XYZ三轴各冲击3次
8.阴极层厚度测量通过FIB-SEM联用系统进行截面制备与纳米级尺度标定
9.失效分析采用热激发电流谱（TSC）定位介质氧化膜缺陷位置
10.可焊性评估使用润湿平衡测试仪记录0~3秒内焊料爬升高度曲线
检测标准
IEC60384-3:2016电子设备用固定电容器-第3部分：分规范表面安装MnO2钽固定电容器
GB/T7332-2011电子设备用固定电容器第8部分:分规范1类瓷介固定电容器
MIL-PRF-55365H宇航级固体电解质钽电容器通用规范
EIA-535BAAC-A表面贴装钽电容器应力测试标准
JISC5101-7:2014电子设备用固定电容器试验方法通则
AEC-Q200RevE汽车电子元件可靠性验证标准
GJB63B-2001有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范
ESCC3009/017欧洲航天元器件委员会钽电容认证标准
IPC-TM-6502.6.3A表面贴装元件可焊性测试方法
UL810-2018电容器安全认证标准
检测仪器
1.LCR精密测试仪（KeysightE4980AL）：实现0.05%基本精度下的宽频阻抗参数测量
2.高加速寿命试验箱（ESPECTABAIPL-3J）：提供-70℃~+180℃快速温变环境模拟
3.半导体参数分析仪（Keithley4200A-SCS）：纳安级漏电流精确测量与I-V特性分析
4.X射线实时成像系统(YxlonFF35CT)：20μm空间分辨率下的无损内部结构检验
5.振动控制系统(LDSV964)：最大载荷50kg的三轴随机振动谱复现能力
6.热重分析仪(TAQ500)：测定二氧化锰分解温度与失重曲线(20~1000℃)
7.扫描电子显微镜(HitachiSU8010)：5nm分辨率下的微观形貌与元素面分布分析
8.氦质谱检漏仪(PfeifferASM340)：实现510^-9Pam/s级泄漏率精确测量
9.介质击穿测试仪(HipotronicsHDC系列)：0~5kV直流耐压与绝缘电阻同步监测
10.热冲击试验箱(WeissTS-780)：液氮冷却实现-65℃~+175℃两箱法快速温变
检测流程
1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品，安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件
