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发布时间:2025-05-27
关键词:宽波长非零色散单模光纤特性检测标准,宽波长非零色散单模光纤特性检测机构,宽波长非零色散单模光纤特性检测周期
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
色散系数、衰减系数谱分布、截止波长偏差、模场直径一致性、偏振模色散系数、宏弯损耗灵敏度、几何参数公差(包层直径/同心度/不圆度)、涂层同心度偏移量、零色散波长偏移量、色散斜率线性度、温度循环衰减稳定性、湿热老化性能、抗拉强度保留率、动态疲劳参数n值筛选、涂层剥离力临界值、光纤翘曲半径极限值、氢损敏感性评估、非线性效应阈值(SBS/SRS)、PMD链路统计值(Q因子)、OTDR事件点定位精度、端面研磨角度容差、接续损耗重复性验证、抗辐射性能等级判定、弯曲不敏感性验证(半径5mm/10mm)、涂层收缩率控制指标、紫外固化度达标率筛选、抗化学腐蚀能力分级(酸碱/有机溶剂)、纵向均匀性偏差分析(5km段长)、抗微弯损耗指数分级(侧压载荷0.7N/mm)、抗氢老化加速寿命测试。
G.655.A/B/C/D/E型非零色散位移单模光纤、海底通信增强型NZDSF光纤、超低损耗ULL-NZDSF光纤、大有效面积LEAF光纤、高负色散补偿光纤模块组件、抗弯曲G.657兼容NZDSF混合光纤束缆单元结构件样本段(含松套管/紧套层/带状结构)、高温稳定型陶瓷涂层NZDSF预制棒切片样本组(芯径波动0.1μm批次)、气吹敷设专用微缆单元样本组(含不同填充膏配比对照样)、高密度数据中心用MPO连接器预装NZDSF跳线样本组(8芯/12芯/24芯阵列)、特种氟树脂涂覆耐腐蚀NZDSF样本段(酸性环境加速老化对比组)、抗氢损金属涂层NZDSF样本段(氢分压50kPa加速试验组)、超低PMD旋绕工艺NZDSF盘纤样本(盘径300mm/600mm对照样)、高寒地区用耐低温NZDSF样本组(-60℃冷热冲击循环试验组)、抗侧压铠装NZDSF光缆样本段(钢带/芳纶加强层结构对照样)。
相移法色散测试:采用可调谐激光源与参考光路干涉系统测量群时延随波长变化率。
截断法衰减谱分析:通过比对2km光纤段输入输出光功率谱密度计算单位损耗。
波长扫描模场直径测定:基于可变孔径远场扫描技术获取1310nm/1550nm双窗口模场分布。
偏振态分析法PMD测试:利用琼斯矩阵本征分析仪测量差分群时延统计分布。
三点弯曲宏弯损耗测试:在半径15mm/20mm/30mm绕轴条件下测量1550nm窗口附加损耗。
高温高湿加速老化试验:85℃/85%RH环境箱中持续1000小时监测涂层剥离力衰减率。
动态疲劳n值四点弯曲法:通过不同应变速率下断裂概率计算裂纹增长指数。
OTDR事件点解析校准:使用10cm空间分辨率模块定位接续点反射事件位置误差。
端面干涉仪研磨角测量:采用λ/10精度相移干涉仪分析8APC端面角偏差。
SBS阈值功率扫描法:通过窄线宽激光器逐步提升输入功率监测布里渊散射拐点。
ITU-TG.650.1《单模光纤相关参数的定义与测试方法》
ITU-TG.650.2《单模光纤统计和非线性属性测量》
IEC60793-1-40《光学纤维第1-40部分:衰减均匀性试验方法》
IEC60793-1-48《光学纤维第1-48部分:偏振模色散的测量》
TIA/EIA-455-80-C《光纤几何参数测试的折射近场法》
GB/T15972.20-2008《光纤试验方法规范第20部分:尺寸参数的测量》
YD/T2157-2021《通信用G.655类非零色散单模光纤特性》
IECTR62316《光纤宏弯损耗测量的指导性技术文件》
JISC6835《单模光纤机械可靠性试验方法》
ASTMD4566-19《通信光缆机械性能测试标准》
光时域反射仪(OTDR):配备1650nm探测波长模块与40dB动态范围,实现≥120km链路衰减分布解析。
色散测试系统:集成可调谐激光源(1520-1620nm)与相位敏感探测器,色散分辨率达0.01ps/(nmkm)。
偏振分析仪:基于斯托克斯参量分析法实现PMD系数0.01ps/√km精度测量。
光纤几何参数分析仪:采用折射近场扫描技术实现包层直径0.1μm级重复性测量。
动态疲劳试验机:四点弯曲夹具支持0.01%/s至10%/s应变速率精确控制。
高温高湿试验箱:温控精度0.5℃/湿度波动2%RH满足IEC60068-2-78标准要求。
端面干涉仪:配备60倍物镜与数字相位解算软件实现APC端面角0.2测量精度。
SBS阈值测试系统:集成窄线宽DFB激光器(线宽≤5MHz)与高灵敏度光谱分析模块。
微弯敏感度测试台:采用阵列式侧压加载装置实现0-50N/mm线性压力梯度施加。
氢老化试验装置:密闭腔体支持100kPa氢气分压环境模拟与实时透氢率监测。
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