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发布时间:2025-05-27
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
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原子吸收光谱法(AAS):通过基态原子对特征谱线的吸收进行定量分析,检出限可达0.01μg/g
电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES):利用高温等离子体激发元素特征谱线,实现多元素同步测定
X射线荧光光谱法(XRF):非破坏性分析技术,适用于现场快速筛查
辉光放电质谱法(GD-MS):可测定ppb级超低含量锑杂质
扫描电子显微镜-能谱联用法(SEM-EDS):实现微区成分与形貌的同步分析
阳极溶出伏安法:适用于镀层或表面处理层的痕量锑测定
中子活化分析法(NAA):核反应法测定绝对含量,精度达0.001μg/g级
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JISH1355:2019铝合金中杂质元素的发射光谱分析法
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GB/T17432-2012变形铝及铝合金化学成分分析取样方法
ASTME1251-17a铝及铝合金光学发射真空光谱测定试验方法
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