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发布时间:2025-05-26
关键词:无水氯化铈试验仪器,无水氯化铈检测周期,无水氯化铈检测机构
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
主成分含量测定、氯离子含量测定、结晶水含量分析、稀土总量测定、非稀土杂质检测(Fe/Al/Ca/Mg等)、硫酸根离子残留量测定、硝酸根离子残留量测定、pH值测定、灼烧减量测试、粒度分布分析、比表面积测定、振实密度测试、溶解性试验、热重分析(TGA)、差示扫描量热(DSC)、X射线衍射物相分析(XRD)、红外光谱特征峰验证(FT-IR)、紫外可见吸收光谱分析(UV-Vis)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)全元素扫描、电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)痕量元素检测、氧含量测定、氮含量测定、碳含量测定、硫含量测定、重金属总量(以Pb计)测定、放射性核素筛查、晶体形貌观察(SEM)、粒径分布统计(激光粒度仪)、吸湿性测试、储存稳定性评估。
工业级无水氯化铈粉末、高纯试剂级无水氯化铈晶体、催化剂载体用无水氯化铈颗粒、稀土合金制备原料块体、光学镀膜材料薄片状样品、玻璃着色剂专用粉体样品、陶瓷釉料复合型样品、石油裂解催化剂颗粒样品、燃料电池电解质前驱体材料样品、磁性材料合成中间体粉末样品、废水处理吸附剂成型颗粒样品、有机合成催化剂负载型样品、电子级超高纯无水氯化铈靶材样品、核工业屏蔽材料复合试样样品、医药中间体合成原料粉末样品、高温超导材料前驱体粉体样品、激光晶体生长用原料颗粒样品、固体氧化物燃料电池电解质粉体样品、储氢材料改性添加剂粉末样品、荧光材料基质原料块体样品、半导体掺杂剂专用高纯粉体样品、高分子材料阻燃剂复合型颗粒样品、金属表面处理剂液体浸渍试样样品、锂电池正极材料前驱体粉末样品、核磁共振造影剂原料粉体样品3D打印陶瓷浆料添加剂粉体样品太阳能电池光吸收层前驱体粉末样品纳米复合材料基材超细粉体样品环境监测标准物质对照品实验室合成研究用试样。
X射线衍射法(XRD)通过特征衍射峰比对确认晶体结构纯度;电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)采用轴向观测模式实现0.01-1000ppm浓度范围的元素定量;卡尔费休库仑法通过电解反应精确测定微量水分;热重-差热联用技术(TG-DSC)同步分析热分解特性与相变温度;激光粒度分析仪基于米氏散射理论统计粒径分布;比表面及孔隙度分析仪通过BET氮吸附法计算比表面积;扫描电镜(SEM)配合能谱仪(EDS)进行微观形貌与元素面分布表征;离子色谱法分离测定阴离子杂质;高频红外碳硫分析仪采用燃烧红外法测定C/S含量;紫外可见分光光度法通过特征吸收峰验证光学性能。
GB/T16484.21-2009氯化稀土化学分析方法第21部分:氧化铈量的测定;ISO13546:2021稀土化合物中非稀土杂质测定-电感耦合等离子体质谱法;ASTME1950-2018热重分析仪校准标准规程;JISK0068:2020化学产品结晶水含量测试方法通则;GB/T20127.7-2013金属材料痕量元素分析的电子探针显微分析方法;ISO13320:2020粒度分析-激光衍射法通用原则;GB/T6609.30-2022氧化铝化学分析方法第30部分:X射线荧光光谱法测定元素含量;ASTMD5356-2017库仑卡尔费休法测定石油产品中水分的标准试验方法;ISO11885:2007水质-电感耦合等离子体发射光谱法测定33种元素;GB/T17433-2014冶金产品化学分析基础术语。
X射线衍射仪(RigakuSmartLab)配备高温附件实现原位相变研究;电感耦合等离子体发射光谱仪(PerkinElmerAvio500)采用双观测模式提升动态范围;库仑法水分测定仪(MettlerToledoC30S)分辨率达0.1μgH2O;同步热分析仪(NETZSCHSTA449F3)同步采集TG-DSC信号;激光粒度分析仪(MalvernMastersizer3000)测量范围0.01-3500μm;比表面及孔隙度分析仪(MicromeriticsASAP2460)具备微孔分析功能;场发射扫描电镜(HitachiSU8010)搭配牛津能谱实现纳米级表征;离子色谱仪(ThermoScientificDionexICS-600)配备电导检测器分离阴离子杂质;高频红外碳硫分析仪(LECOCS844)采用高频感应炉燃烧技术;紫外可见分光光度计(ShimadzuUV-2600i)配备积分球附件测试漫反射特性。
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