面料电磁屏蔽效率检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

电磁屏蔽效率检测主要包含以下核心指标：

电磁屏蔽效能（SE）：通过入射场强与透射场强的对数比值计算（单位：dB），覆盖垂直极化与水平极化两种模式

频率响应特性：测定材料在30MHz-1.5GHz（民用频段）及1.5GHz-18GHz（军用/特殊频段）的衰减曲线

材料均匀性：通过网格化采样（间距≤10cm）验证屏蔽效能的区域一致性

耐久性参数：包含50次标准洗涤后屏蔽衰减率、机械拉伸形变（10%应变）下的性能保持度

环境适应性：测试温度（-40℃~+85℃）、湿度（95%RH）交变条件下的稳定性

检测范围

本检测适用于以下材料类型及应用场景：

导电纤维复合材料：金属纤维混纺（不锈钢/铜基）、碳纤维交织织物

表面改性材料：化学镀银/镍处理面料、真空溅射镀膜纺织品

纳米复合材料：石墨烯涂层织物、MXene基复合薄膜材料

特殊结构织物：多层屏蔽结构（导电层/介电层交替）、三维立体编织物

应用领域覆盖：医疗设备防护服、军工电磁遮蔽装备、5G基站隔离材料、精密仪器包装材料等

检测方法

主流测试方法依据电磁波传输理论与标准规范实施：

屏蔽室法（FaradayCageMethod）

基于IEEE299标准构建全封闭金属腔体，通过信号发生器发射标准电磁波（场强1V/m），采用双天线系统测量入射场强E₀与透射场强E₁。计算公式为SE=20log(E₀/E₁)，适用于低频段（＜1GHz）整体屏蔽效能评估。

同轴法兰法（CoaxialFlangeMethod）

依据ASTMD4935设计同轴传输线装置，试样加工为环形（外径133mm/内径76mm），通过矢量网络分析仪测量S参数（S21散射参数）。计算公式SE=-10log(P_T/P_I)，特别适用于高频段（1-18GHz）平面材料的本征屏蔽性能测试。

微波暗室法（AnechoicChamberMethod）

在3m法半电波暗室中搭建标准测试系统：发射天线与接收天线间距≥3m，采用对数周期天线覆盖800MHz-6GHz频段。通过场强探头矩阵实现三维空间场强分布测绘。

近场扫描法（Near-FieldScanning）

使用微型磁场探头（直径≤5mm）在距离试样表面1cm范围内进行二维扫描（步进精度0.5mm），绘制局部屏蔽缺陷分布图，用于评估材料微观结构的均匀性。

检测仪器

关键测试设备需满足IEC61000-4-21标准要求：

矢量网络分析仪

频率范围覆盖10MHz-40GHz（如KeysightPNA系列），动态范围≥120dB，支持TRL校准与误差修正。

屏蔽效能测试系统

集成双脊喇叭天线（1GHz-18GHz）、步进电机定位平台（定位精度0.1mm）、数据采集模块的三维自动化测试系统。

高精度场强探头

各向同性电场探头（频响10kHz-6GHz）、三维磁场探头组（分辨率0.1A/m），配合光纤隔离系统消除探头干扰。

环境模拟试验箱

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件