分析鉴定 / 研发检测
-- 综合性科研服务机构，助力企业研发，提高产品质量 --
400-635-0567
中析研究所检测中心
400-635-0567
中科光析科学技术研究所
公司地址：
北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121[可寄样]
投诉建议：
010-82491398
报告问题解答：
010-8646-0567
检测领域：
成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。
发布时间：2025-05-14
关键词：三氟化镝检测案例,三氟化镝检测范围,三氟化镝检测标准
浏览次数：
来源：北京中科光析科学技术研究所
因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。
三氟化镝的标准化检测体系包含以下核心项目：
主成分定量分析：测定DyF₃的纯度等级（≥99.9%至≥99.99%）
稀土杂质检测：包括镧系元素（La、Ce、Pr等）及钇（Y）的痕量测定
非稀土杂质分析：重点监控Fe、Al、Si等金属杂质及O、C等非金属元素
物理性能测试：涵盖粒度分布（D50/D90）、比表面积（BET法）、晶体形貌（SEM）
三氟化镝的质量控制覆盖全产业链环节：
原料端：稀土氧化物（Dy₂O₃）、氢氟酸原料的批次检验
生产过程：合成中间体的成分监控与工艺参数验证
终端产品：
核反应堆中子吸收材料（棒状/颗粒状制品）
光学镀膜用高纯靶材（晶体取向度≥98%）
磁性复合材料基体（磁晶各向异性参数测定）
依据GB/T 12690-202X《稀土金属及其化合物化学分析方法》及ASTM C1605-18标准：
采用波长色散型仪器（WD-XRF），配备LiF200晶体与闪烁计数器，通过标准曲线法实现主量元素的快速筛查。
使用高分辨扇形磁场质谱仪（HR-ICP-MS），采用内标法校正基体效应，检出限可达0.01ppm级。
θ-2θ扫描模式下采集衍射图谱（Cu Kα辐射），通过Rietveld精修计算晶胞参数与相纯度。
在Ar气氛保护下以10℃/min升温至1200℃，记录质量变化与热流曲线。
采用米氏散射理论模型，超声分散后测量D10-D90分布区间。
| 仪器类型 | 技术参数 | 应用场景 |
|---|---|---|
| 四极杆ICP-MS | 检出限：≤0.1ppt（Rh内标） | 痕量稀土杂质测定 |
| 高温XRD系统 | 角度精度：±0.001° | 相变行为原位分析 |
| 场发射SEM-EDS | 元素范围：B-U | |
| 同步热分析仪 | 温度精度：±0.1℃ | |
所有仪器均需通过CNAS认可的计量校准程序，定期进行NIST标准物质验证测试。实验室环境应维持温度(23±2)℃、湿度(50±10)%RH的恒温恒湿条件。
1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品，安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件
