中析研究所检测中心
400-635-0567
中科光析科学技术研究所
公司地址:
北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121[可寄样]
投诉建议:
010-82491398
报告问题解答:
010-8646-0567
检测领域:
成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。
发布时间:2025-05-14
关键词:陶瓷成分快速检测范围,陶瓷成分快速检测标准,陶瓷成分快速项检测报价
浏览次数:
来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
陶瓷成分快速检测涵盖三大核心项目:基础化学成分分析、矿物相鉴定及微量元素测定。基础化学成分分析聚焦SiO₂、Al₂O₃、K₂O、Na₂O等主量氧化物含量测定;矿物相鉴定通过物相结构解析确定石英、莫来石、长石等晶相比例;微量元素检测重点监控Pb、Cd、Cr等重金属元素及Li、B等助熔剂成分。
特殊功能陶瓷需增加专项检测:压电陶瓷须测定BaTiO₃基体纯度与掺杂元素分布;生物陶瓷需量化羟基磷灰石结晶度与Ca/P摩尔比;高温结构陶瓷则需精确分析SiC/Si3N4复合相含量及晶界相组成。
本检测体系适用于四大类陶瓷材料:传统硅酸盐陶瓷(日用瓷、建筑陶瓷)、先进结构陶瓷(发动机部件、切削工具)、功能陶瓷(介电/压电/磁性材料)及生物医用陶瓷(人工关节/牙科植入体)。具体涵盖原料坯体、釉料配方、成品器件等全流程样本。
特殊应用场景扩展至考古文物修复领域,可对古陶瓷胎釉成分进行无损分析;在工业失效分析中支持破损件的成分溯源;同时满足欧盟REACH法规、FDA食品接触材料等国际标准要求。
X射线荧光光谱法(XRF)作为基础方法,可在10分钟内完成固体样品主量元素半定量分析;电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)实现ppb级微量元素精确测定;X射线衍射(XRD)用于矿物相定性与定量分析。
针对特殊需求采用联用技术:热重-差示扫描量热法(TG-DSC)同步分析烧成过程物相转变;激光剥蚀等离子体质谱(LA-ICP-MS)实现微区元素分布成像;显微拉曼光谱适用于釉层表面非晶态结构表征。
标准配置包含波长色散型XRF光谱仪(如Rigaku ZSX Primus IV)、多道ICP-OES(PerkinElmer Avio 500)及多功能X射线衍射仪(Bruker D8 ADVANCE)。辅助设备配备热分析系统(NETZSCH STA 449 F3)、场发射电子显微镜(FE-SEM)搭配能谱仪(EDS)。
高端实验室配置同步辐射光源微区XRF(SR-μXRF)实现亚微米级元素分布分析;飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)用于表面痕量杂质检测;全自动样品制备系统(Herzog HTS 120)保障批量处理效率。
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件