中析研究所检测中心
400-635-0567
中科光析科学技术研究所
公司地址:
北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121[可寄样]
投诉建议:
010-82491398
报告问题解答:
010-8646-0567
检测领域:
成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。
发布时间:2025-05-14
关键词:镀铬成分检测周期,镀铬成分检测方法,镀铬成分检测案例
浏览次数:
来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
镀铬成分检测体系包含六大核心指标:
铬层厚度测定:采用微米级精度测量镀层总厚度及分层结构,直接影响耐磨性与导电性能
主量元素分析:定量检测Cr元素含量(通常≥99.2%),验证镀液配方稳定性
杂质元素筛查:重点监控Fe、Ni、Cu等金属杂质及S、P非金属夹杂物
微观形貌表征:评估镀层晶粒尺寸、孔隙率及裂纹分布状态
结合强度测试:通过划格法或拉伸试验测定基材与镀层结合力
耐环境试验:包含中性盐雾试验(NSS)、CASS加速腐蚀试验等环境模拟项目
本检测方案适用于以下典型应用场景:
应用领域 | 检测重点 |
---|---|
汽车零部件 | 活塞杆表面硬铬镀层的孔隙率与耐盐雾性能 |
电子接插件 | 功能性铬镀层的厚度均匀性与接触电阻值 |
模具制造 | 装饰性铬层的显微硬度与表面粗糙度控制 |
航空航天部件 | 三价铬镀层的氢脆敏感性与高温稳定性 |
医疗器械 | 生物相容性镀层的重金属溶出量测定 |
现行标准体系中的主要分析方法包括:
X射线荧光光谱法(XRF)
依据ISO 3497标准进行非破坏性元素分析,配备多道波长色散系统可实现Cr-Kα特征谱线(5.414 keV)的精确测定。
辉光放电光谱法(GDOES)
按ASTM B568实施深度剖析,通过Ar等离子体溅射逐层剥离镀层,同步获取成分-深度分布曲线。
扫描电镜-能谱联用(SEM-EDS)
基于JIS H8504标准进行微区成分分析,配合背散射电子成像可识别夹杂物相分布。
库仑法测厚技术
根据DIN 50955标准原理,在特定电解液中通过阳极溶解计算镀层厚度。
电化学阻抗谱(EIS)
采用三电极体系测定镀层在腐蚀介质中的极化电阻与电容响应。
标准化实验室需配置以下正规设备:
Fischer XDLM®系列X射线测厚仪
Horiba GD-Profiler 2辉光放电光谱仪
TESCAN VEGA3扫描电子显微镜
Gamry Reference 600+电化学工作站
Q-Fog CCT1100循环腐蚀试验箱
Clemex CMT显微硬度计
注:所有检测流程均需在ISO/IEC 17025认证实验环境下执行,定期使用NIST标准物质进行设备校准。
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件