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发布时间:2025-05-13
关键词:介电常数测试检测案例,介电常数测试试验仪器,介电常数测试检测机构
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
介电常数测试涵盖以下核心检测项目:
相对介电常数(εr):表征材料储存电能能力的无量纲参数
介质损耗角正切值(tanδ):反映电能转化为热能的损耗特性
频率特性曲线:测量102-109Hz范围内的εr与tanδ变化规律
温度稳定性测试:评估-70℃至300℃温域内的介电性能漂移量
击穿场强关联分析:研究介电常数与绝缘破坏阈值的关系
各向异性表征:针对层状/纤维增强材料的空间方向性测试
本检测适用于以下材料体系:
材料类别 | 典型应用场景 |
---|---|
高分子聚合物 | PCB基材(FR-4/PI)、电缆绝缘层(XLPE/PVC) |
陶瓷介质 | MLCC介质层(BaTiO3)、微波基板(Al2O3/AlN) |
复合绝缘材料 | 环氧树脂/云母复合体系、硅橡胶/SiO2填料系统 |
功能薄膜材料 | PVD沉积SiOx/SiNx栅极介质层 |
液态电解质 | 锂离子电池电解液(EC/DMC体系)、变压器油 |
生物组织模拟物 | 医疗高频消融电极接触介质校准物质 |
主流测试方法及其技术特征如下:
适用频率范围:1kHz-1MHz
样品要求:厚度0.1-5mm的规则片状试样
关键技术:边缘电容补偿算法(Guard Ring设计)
适用频率范围:1MHz-3GHz
样品要求:表面平整度≤5μm的块体/薄膜材料
关键技术:时域门控反射信号处理技术(TDR校正)
适用频率范围:500MHz-40GHz
样品要求:体积≤谐振腔容积5%的规则几何体
关键技术:TE01n/TM0mn模式Q值精确测量技术
适用频率范围:8-110GHz毫米波频段
样品要求:直径≥10λ的大面积平板试样
关键技术:准光路系统校准与多反射抑制算法
关键仪器设备技术参数概览:
频率范围:20Hz-120MHz(典型型号Keysight E4990A)
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7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件