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介电常数测试检测

发布时间:2025-05-13

关键词:介电常数测试检测案例,介电常数测试试验仪器,介电常数测试检测机构

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来源:北京中科光析科学技术研究所

文章简介:

介电常数测试是评估材料在电场中极化能力的关键指标,广泛应用于电子元器件、绝缘材料及高频通信领域。专业检测需依据国际标准(如ASTMD150或IEC60250),重点关注频率响应范围(1kHz-1GHz)、温度稳定性(-50℃至200℃)及介质损耗控制。核心要点包括样品制备规范性、电极系统校准精度以及环境干扰屏蔽措施。
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因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。

检测项目

介电常数测试涵盖以下核心检测项目:

相对介电常数(εr):表征材料储存电能能力的无量纲参数

介质损耗角正切值(tanδ):反映电能转化为热能的损耗特性

频率特性曲线:测量102-109Hz范围内的εr与tanδ变化规律

温度稳定性测试:评估-70℃至300℃温域内的介电性能漂移量

击穿场强关联分析:研究介电常数与绝缘破坏阈值的关系

各向异性表征:针对层状/纤维增强材料的空间方向性测试

检测范围

本检测适用于以下材料体系:

材料类别典型应用场景
高分子聚合物PCB基材(FR-4/PI)、电缆绝缘层(XLPE/PVC)
陶瓷介质MLCC介质层(BaTiO3)、微波基板(Al2O3/AlN)
复合绝缘材料环氧树脂/云母复合体系、硅橡胶/SiO2填料系统
功能薄膜材料PVD沉积SiOx/SiNx栅极介质层
液态电解质锂离子电池电解液(EC/DMC体系)、变压器油
生物组织模拟物医疗高频消融电极接触介质校准物质

检测方法

主流测试方法及其技术特征如下:

平行板电容法(ASTM D150)

适用频率范围:1kHz-1MHz

样品要求:厚度0.1-5mm的规则片状试样

关键技术:边缘电容补偿算法(Guard Ring设计)

同轴探头法(IEEE P287)

适用频率范围:1MHz-3GHz

样品要求:表面平整度≤5μm的块体/薄膜材料

关键技术:时域门控反射信号处理技术(TDR校正)

谐振腔微扰法(IEC 60556)

适用频率范围:500MHz-40GHz

样品要求:体积≤谐振腔容积5%的规则几何体

关键技术:TE01n/TM0mn模式Q值精确测量技术

自由空间法(ASTM D5568)

适用频率范围:8-110GHz毫米波频段

样品要求:直径≥10λ的大面积平板试样

关键技术:准光路系统校准与多反射抑制算法

检测仪器

关键仪器设备技术参数概览:

精密阻抗分析仪

频率范围:20Hz-120MHz(典型型号Keysight E4990A)

检测流程

1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品,安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件

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