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发布时间：2025-05-13
关键词：老化测试座性能检测周期,老化测试座性能检测案例,老化测试座性能检测机构
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来源：北京中科光析科学技术研究所
因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。
老化测试座的核心检测项目包含六大关键指标：接触电阻稳定性验证（DC 10mA-1A）、绝缘电阻衰减测试（500VDC）、介电强度验证（AC 1500V/1min）、机械耐久性评估（5000次插拔循环）、温湿度交变试验（-55℃~125℃/95%RH）、盐雾腐蚀试验（5%NaCl/48h）。其中接触阻抗波动值需控制在±5mΩ范围内，插拔力衰减率不得超过初始值的15%。
特殊应用场景需增加气密性检测（氦质谱检漏≤1×10-9 Pa·m³/s）与高频特性验证（40GHz VSWR≤1.5）。针对大电流连接器需执行100A连续载流试验（ΔT≤30K），高密度连接器须通过0.35mm间距的绝缘耐压测试。
本检测体系适用于各类金属合金（磷青铜/铍铜/镍钛合金）及工程塑料（LCP/PPS/PEI）材质的测试插座。涵盖DIP/SOP/QFP/BGA等封装接口类型，支持0.4mm~2.54mm间距规格检测。特殊场景包含：
高温老化座（MAX 200℃持续工作）
高频测试座（40GHz信号完整性）
大电流治具（100A持续载流能力）
微间距适配器（0.35mm pitch精度）
适用领域包括半导体晶圆测试、汽车电子模块验证、5G通信设备老化试验等工业场景。
接触电阻测量采用四线法Kelvin连接方式，在DC 100mA测试电流下采集1000次插拔循环数据。绝缘电阻测试使用高阻计施加500V DC电压持续60秒记录泄漏电流值。机械寿命试验通过伺服电机驱动实现每分钟30次的标准插拔动作。
环境可靠性测试执行JESD22-A104标准：85℃/85%RH条件下进行1000小时湿热老化；温度循环按-55℃(30min)→125℃(30min)进行500次循环冲击。高频特性采用矢量网络分析仪进行S参数测量（1MHz-40GHz），时域反射计分析阻抗连续性。
| 设备类型 | 技术参数 | 符合标准 |
|---|---|---|
| 接触电阻测试仪 | 量程1μΩ-2Ω/精度±0.5% | EIA-364-23 |
| 高低温试验箱 | -70℃~+200℃/±0.5℃ | IEC 60068-2-1 |
| 插拔寿命试验机 | 50N轴向力/0.01mm位移分辨率 | EIA-364-09 |
| 绝缘耐压测试仪 | AC 5kV/DC 6kV ±1% | UL 94V-0 |
| 三维形貌仪 | 0.1μm垂直分辨率 | ISO 4287 |
关键设备需定期通过NIST可溯源标准件进行计量校准：接触电阻标准片（SRM 2223）、温度传感器（PT100 Class AA）、力值传感器（HBM U9B）等计量器具的校准周期不超过12个月。
1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品，安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件
