瓷砖成分检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

瓷砖成分检测体系包含五大核心模块：

化学成分分析：测定SiO₂（45-75%）、Al₂O₃（15-25%）、Fe₂O₃（≤1.5%）等主要氧化物含量

放射性核素检测：依据GB 6566测定镭-226（≤35 Bq/kg）、钍-232（≤35 Bq/kg）、钾-40（≤400 Bq/kg）活度指数

物理性能测试：包含吸水率（Ⅰ类≤0.5%、Ⅲ类＞10%）、破坏强度（≥1300N）、线性热膨胀系数（6.0×10^-6/℃）等指标

微观结构分析：通过SEM-EDS观测晶相结构（莫来石相占比≥60%）、气孔率（≤0.5%）及晶界分布特征

有害物质限量：铅（≤75mg/kg）、镉（≤50mg/kg）等重金属可溶出量符合GB 31604.1标准

检测范围

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）

采用波长色散型光谱仪（WDXRF），依据GB/T 30707-2014标准对样品进行无损快速分析。测试条件设定为Rh靶材、50kV管电压、60mA电流，通过FP法计算元素氧化物含量。

伽马能谱法

使用HPGe探测器配合铅屏蔽室进行放射性核素测定。样品经粉碎过筛（粒径＜0.16mm）后装入Marinelli杯，累积测量时间≥8h，参照EJ/T 1117-2000进行数据校正。

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）

按GB/T 23991-2009制备酸性浸提液（0.07mol/L HCl），采用径向观测模式测定Cd、Pb等重金属元素。仪器参数设定为RF功率1350W，雾化气流速0.7L/min。

材料试验系统法

使用电子万能试验机执行三点弯曲试验。依据ISO 10545-4:2019设定跨距L=200mm±1mm，加载速率1mm/min±0.2mm/min至试样断裂。

扫描电子显微镜法（SEM）

样品经喷金处理后置于场发射电镜观察断面形貌。工作电压15kV，放大倍数5000×～20000×，配合能谱仪进行微区成分分析。

检测仪器

X射线荧光光谱仪

型号例：Rigaku ZSX Primus IV

检出限：1ppm～100%

符合标准：JIS K 0119-2017

高纯锗伽马能谱仪

型号例：Canberra GC4020

能量分辨率：≤1.8keV@1332keV

符合标准：GB/T 11713-2015

电感耦合等离子体光谱仪

型号例：PerkinElmer Avio 500

线性范围：0.001～1000mg/L

符合标准：ISO 11885:2007

电子万能试验机

型号例：Instron 5967

载荷容量：50kN

精度等级：0.5级

符合标准：ASTM E4-21

场发射扫描电镜

型号例：Hitachi SU5000

分辨率：1.0nm@15kV

放大倍数：20×～800,000×

符合标准：ISO 16700:2016

>激光粒度分析仪> <

>型号例：Malvern Mastersizer3000<

> 测量范围：0.01～3500μm<

> 符合标准：ISO13320:2020>

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件