中析研究所检测中心
400-635-0567
中科光析科学技术研究所
公司地址:
北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121[可寄样]
投诉建议:
010-82491398
报告问题解答:
010-8646-0567
检测领域:
成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。
发布时间:2025-04-29
关键词:光纤测试仪试验仪器,光纤测试仪检测方法,光纤测试仪检测案例
浏览次数:
来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
光纤测试仪的核心检测项目包括:
插入损耗测试:测量光信号通过连接器、熔接点或整段光纤的衰减值(dB),单模光纤要求≤0.3dB/连接点
回波损耗测试:评估反射信号强度(≥45dB为合格),采用APC端面需满足≥60dB标准
长度测量:基于光时域反射原理实现±1m精度定位
偏振相关损耗(PDL):高速光模块链路要求PDL≤0.2dB
端面洁净度检测:依据IEC 61300-3-35判定污染等级
光纤测试仪适用于以下场景的质量验证:
通信网络系统:FTTH接入网/5G前传网/长途干线网的光纤链路验收
数据中心互连:40G/100G/400G高速光模块的MPO/MTP多芯连接器测试
工业控制网络:石油平台防爆区/轨道交通车载系统的抗弯折光纤验证
特种光纤应用:光子晶体光纤/保偏光纤的偏振特性分析
故障诊断维护:宏弯损耗/微裂纹/熔接缺陷的精准定位(事件盲区≤1m)
标准化检测流程包含以下技术方法:
OTDR双向平均法:按YD/T 3235-2017规范进行双向扫描消除菲涅尔反射误差
光源-光功率计组合法:采用VFL可视故障定位器配合IL/RL一体化测试模块
端面干涉测量法:使用400倍数字显微镜执行端面曲率半径/顶点偏移量分析
光谱分析法:通过OSA光谱仪测量DWDM系统的通道功率平坦度(±1.5dB)
机械可靠性试验:依据GR-326-CORE进行插拔耐久性/温循冲击测试
关键检测设备技术要求如下:
光时域反射计(OTDR):动态范围≥45dB@1550nm,事件盲区≤0.8m,支持CPRI/eCPRI协议解析
光损耗测试套件(OLTS):波长精度±0.5nm,功率线性度±0.03dB,内置Tier1认证功能
光纤端面检测仪:500万像素CMOS传感器,符合IEC 61300-3-35污染等级判定标准
光谱分析仪(OSA):波长范围600-1700nm,分辨率带宽0.02nm,支持C+L波段扫描
多参数测试平台:集成PDL/CD/PMD测量模块,满足ITU-T G.650.1/G.657.A2标准要求
*所有仪器均需通过CNAS认可的计量机构年度校准,校准溯源至NIST波长标准参考源。
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
2、确认检测用途及项目要求
3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)
5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件