导电膏成分异物检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

导电膏异物检测主要包含以下核心项目：

金属颗粒物分析：重点检测铁、铜、铝等异种金属夹杂物含量及粒径分布

非金属无机物鉴别：包括硅酸盐、氧化物等无机杂质的定性与定量分析

有机污染物筛查：针对加工过程中可能引入的油脂、残留溶剂等有机物进行鉴定

纤维类杂质识别：检测生产环境带入的织物纤维或纸屑等纤维素类污染物

粒径异常组分监测：对超出标称粒径范围的导电填料颗粒进行统计表征

检测范围

本检测方案适用于以下应用场景：

电子元件封装材料：包括芯片粘接膏、电磁屏蔽涂层等导电介质

光伏组件制造：晶体硅太阳能电池银浆及薄膜电池导电浆料

柔性电路材料：涵盖可弯曲显示器件用纳米银浆及石墨烯导电油墨

动力电池组件：锂离子电池极耳导电胶及集流体涂层材料

军工电子材料：高可靠性军用电子模块封装用特种导电胶

检测方法

扫描电镜-能谱联用(SEM-EDS)：实现微米级异物的形貌观测与元素组成分析

工作模式：二次电子成像与背散射电子成像结合

元素分析范围：B-U（5kV加速电压下）

傅里叶变换红外光谱(FTIR)：有机污染物的官能团结构解析

测试模式：ATR全反射与透射法互补应用

波数范围：4000-400cm^-1

X射线衍射(XRD)：晶体结构异物的物相鉴定

扫描角度：5°-90°(2θ)

步长精度：0.02°

激光粒度分析(LPSA)：异常粒径组分的分布统计

测量范围：0.1-1000μm

分散介质选择：无水乙醇或专用分散剂

热重-差示扫描量热联用(TG-DSC)：挥发性有机物及热分解产物分析

升温速率：10℃/min（氮气氛围）

温度范围：室温-800℃

检测仪器

场发射扫描电子显微镜

型号示例：JEOL JSM-7900F

分辨率：1.0nm@15kV

显微红外光谱系统

型号示例：Thermo Scientific Nicolet iN10 MX

空间分辨率：5μm×5μm

多晶X射线衍射仪

型号示例：Bruker D8 ADVANCE

测角仪精度：±0.0001°

动态图像粒度分析仪

型号示例：Microtrac MRB CAMSIZER X2

测量频率：250帧/秒

同步热分析仪

型号示例：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter®

称重精度：0.1μg

电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)

型号示例：Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS

检出限：ppt级金属元素分析能力

检测流程

1、咨询：提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品，安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据，编写报告草件，确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件