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发布时间:2025-04-10
关键词:场效应管检测方法,场效应管试验仪器,场效应管项检测报价
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
场效应管核心检测项目包含三大类共12项关键指标:
静态参数:栅源阈值电压(VGS(th))、漏源导通电阻(RDS(on))、栅极漏电流(IGSS)、体二极管正向压降(VSD)
动态参数:开关时间(td(on)/td(off))、反向恢复时间(trr)、输入/输出电容(Ciss/Coss)
可靠性指标:高温反偏(HTRB)寿命、温度循环(TCT)耐受性、湿热偏置(THB)稳定性
本检测体系适用于以下场效应管类型:
分类维度 | 具体类型 |
---|---|
材料体系 | 硅基MOSFET、碳化硅MOSFET、氮化镓HEMT |
结构类型 | 平面栅/沟槽栅MOSFET、VDMOS/横向扩散MOSFET、结型场效应管(JFET) |
功率等级 | 低压器件(<100V)、中压器件(100-600V)、高压器件(>600V) |
封装形式 | SOT-23/TO-220/D2PAK等分立封装、功率模块集成封装 |
依据IEC 60747-8标准建立三级测试体系:
静态特性测试法
采用四线制Kelvin连接消除接触电阻影响
栅极偏置电压按0.1V步进扫描测量ID-VGS曲线
漏源电压施加至额定值120%进行击穿特性测试
动态特性测试法
双脉冲测试平台构建:脉冲宽度10μs-1ms可调
采用差分探头测量米勒平台持续时间
通过RG(int)/RG(ext)组合优化开关损耗测量精度
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
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3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)
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5、收到样品,安排费用后进行样品检测
6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件