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场效应管检测

发布时间:2025-04-10

关键词:场效应管检测方法,场效应管试验仪器,场效应管项检测报价

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来源:北京中科光析科学技术研究所

文章简介:

场效应管检测是评估器件性能与可靠性的核心环节,涵盖电学特性、热稳定性及封装完整性等关键指标。本文依据国际标准(如JEDECJESD24),系统阐述栅极阈值电压、跨导参数、漏源击穿电压等核心检测项目,结合动态开关特性与静态参数分析方法,为电子元器件质量控制提供标准化技术参考。
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因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。

检测项目

场效应管核心检测项目包含三大类共12项关键指标:

静态参数:栅源阈值电压(VGS(th))、漏源导通电阻(RDS(on))、栅极漏电流(IGSS)、体二极管正向压降(VSD

动态参数:开关时间(td(on)/td(off))、反向恢复时间(trr)、输入/输出电容(Ciss/Coss

可靠性指标:高温反偏(HTRB)寿命、温度循环(TCT)耐受性、湿热偏置(THB)稳定性

检测范围

本检测体系适用于以下场效应管类型:

分类维度具体类型
材料体系硅基MOSFET、碳化硅MOSFET、氮化镓HEMT
结构类型平面栅/沟槽栅MOSFET、VDMOS/横向扩散MOSFET、结型场效应管(JFET)
功率等级低压器件(<100V)、中压器件(100-600V)、高压器件(>600V)
封装形式SOT-23/TO-220/D2PAK等分立封装、功率模块集成封装

检测方法

依据IEC 60747-8标准建立三级测试体系:

静态特性测试法

采用四线制Kelvin连接消除接触电阻影响

栅极偏置电压按0.1V步进扫描测量ID-VGS曲线

漏源电压施加至额定值120%进行击穿特性测试

动态特性测试法

双脉冲测试平台构建:脉冲宽度10μs-1ms可调

采用差分探头测量米勒平台持续时间

通过RG(int)/RG(ext)组合优化开关损耗测量精度

检测流程

1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)

2、确认检测用途及项目要求

3、填写检测申请表(含公司信息及产品必要信息)

4、按要求寄送样品(部分可上门取样/检测)

5、收到样品,安排费用后进行样品检测

6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误

7、确认完毕后出具报告正式件

8、寄送报告原件

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