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发布时间:2025-04-10
关键词:云母电容检测周期,云母电容检测标准,云母电容试验仪器
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
云母电容的核心检测项目包括以下七类:
电容量偏差:实测值与标称值的允许误差范围(±1%~±20%)
耐压强度:直流/交流击穿电压测试(1.5~3倍额定电压)
损耗角正切(tanδ):高频下介质损耗特性(≤0.002@1MHz)
绝缘电阻:极间电阻值(≥10GΩ·μF)
温度特性:-55℃~+125℃环境下的容量变化率(≤±0.5%)
频率特性:1kHz~100MHz范围内的容量稳定性
机械耐久性:振动/冲击试验后的参数漂移量
检测对象涵盖以下四类云母电容:
分类维度 | 具体类型 |
---|---|
封装形式 | 模压型/金属壳封装/环氧包封 |
电极结构 | 箔式电极/被银电极/金属化电极 |
应用场景 | 高频电路/脉冲电路/滤波电路/谐振电路 |
特殊性能 | 高Q值型/耐高温型/超稳定型 |
采用四端对LCR表在23±2℃环境下进行测量:
1. 预置测试频率(1kHz/1MHz)
2. 施加0.5Vrms测试信号
3. 自动补偿引线电感误差
4. 三次测量取平均值
直流耐压测试流程:
1. 以100V/s速率升压至规定值
2. 保持60±5秒
3. 漏电流阈值设定为5μA
4. 记录击穿电压及泄漏电流曲线
-55℃↔+125℃交变试验:
1. 每个温区保持30分钟
2. 转换时间≤5分钟
3. 完成10次循环后
4. 恢复4小时测量参数漂移量
仪器类型 | 技术指标 | 应用场景 |
---|---|---|
精密LCR表 | 0.05%基本精度 1MHz测试频率 四端对接口 | 电容量/损耗因数测量 |
耐压测试仪 | 0~5kV可调 分辨率0.1μA ARC保护功能 | 绝缘强度验证 |
高低温试验箱 | -70℃~+180℃ ±0.5℃控温精度 快速温变功能 | 温度特性评估 |
频谱分析仪 | 9kHz~3GHz -120dBc动态范围 TDR时域反射功能 | 高频特性分析 |
x射线测厚仪 | 5μm分辨率 多层结构解析功能 | 内部结构缺陷检测 |
*所有仪器均需定期通过CNAS认可的计量机构进行校准,确保测量结果符合ISO/IEC 17025标准要求。
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
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