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发布时间:2025-04-03
关键词:磨料检测周期,磨料检测机构,磨料试验仪器
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
通过激光衍射法测定磨料颗粒的粒径分布曲线,建立D10/D50/D90特征值数据库。重点监控粗粒超标导致的加工表面划痕风险及细粒不足引起的切削效率下降问题。
采用X射线荧光光谱法(XRF)测定Al₂O₃、SiC等主成分含量及Fe₂O₃、TiO₂等杂质元素比例。碳化硅磨料需额外检测游离碳含量(≤0.25%),刚玉系磨料重点控制Na₂O含量(≤0.6%)。
依据ASTM E384标准进行维氏硬度(HV)测定,金刚石微粉要求HV≥8000kgf/mm²,立方氮化硼(CBN)磨料典型值在4500-5000kgf/mm²区间。
使用标准漏斗法测量单位体积质量密度(g/cm³),刚玉砂轮用白刚玉要求≥1.95g/cm³,绿碳化硅磨料需≥2.15g/cm³。
采用磁选分离-重量分析法测定铁磁性杂质占比(≤0.05%),防止金属杂质在精密加工中引发工件污染。
使用万能材料试验机进行单颗粒破碎强度测试(N/粒),树脂砂轮用棕刚玉颗粒要求≥25N/粒。
涵盖白刚玉(WA)、棕刚玉(A)、铬刚玉(PA)等氧化铝基材料制品检测,适用于砂轮、切割片等固结磨具的质量控制。
包括黑碳化硅(C)、绿碳化硅(GC)两类产品检测,重点监控游离硅含量(≤0.2%)及β-SiC相纯度(≥98%)。
金刚石微粉需进行晶形完整度SEM分析及热稳定性测试(800℃/30min失重率≤5%),立方氮化硼(CBN)需测定晶体棱角保持率。
陶瓷复合磨料需进行界面结合强度测试(≥150MPa),金属包覆型磨料需测定镀层厚度均匀性(±5μm)。
覆盖块状原料、破碎颗粒、整形颗粒、镀衣处理品等不同物理形态产品的差异化检测方案制定。
依据ISO 13320标准配置湿法分散系统(介质为0.05%六偏磷酸钠溶液),采用Mie散射理论计算粒径分布谱图。
建立标准样品校准曲线(CRM编号GBW02711-GBW02715),采用FP法校正基体效应误差。
使用场发射SEM(加速电压15kV)配合能谱仪(EDS)进行微观形貌观测及元素面分布分析。
在氮气保护气氛下以10℃/min升温至1200℃,测定金刚石微粉的氧化起始温度及失重曲线。
采用40kHz超声波清洗设备配合离心机(3000rpm)进行磁性物分离提取。
配备湿法进样系统及超声分散模块(功率可调范围30-100W),测量范围0.02-2000μm。
配置Rh靶X光管(50kV/60mA)及SDD探测器(分辨率≤125eV),支持无标样半定量分析。
配备自动转塔式压头切换系统(HV/HK/HRA标尺),最大试验力10kgf。
采用氦气置换法原理(ASTM B923),测量腔体容积100cm³±0.01cm³。
-50℃至1000℃宽温区测试能力(升温速率0.1-20℃/min),分辨率0.05μm/m·℃。
配置石墨炉原子化器及背景校正系统(塞曼效应型),检出限达ppb级。
1、咨询:提品资料(说明书、规格书等)
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6、检测出相关数据,编写报告草件,确认信息是否无误
7、确认完毕后出具报告正式件
8、寄送报告原件