超细银粉检测

因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。

检测项目

超细银粉质量评价体系包含七大核心指标：粒径分布（D10/D50/D90）、金属银含量（≥99.95%）、微观形貌特征（球形度/结晶度）、比表面积（BET法）、振实密度（≥5.6g/cm）、表面氧化物含量（≤0.3wt%）及分散稳定性（Zeta电位）。其中粒径分布离散系数应控制在0.25以下以保证批次一致性，XRD衍射半峰宽可验证晶粒尺寸与理论值的偏差。

检测范围

本检测方案适用于：1）电子工业用导电银浆原料（粒径50-200nm）；2）医疗抗菌材料（粒径10-50nm）；3）光伏电极材料（粒径100-500nm）；4）催化剂载体（粒径20-100nm）。涵盖粉末状、浆料态及薄膜复合型样品形态。特殊要求包括：高真空环境样品需配备专用转移装置；含有机包覆层的样品应注明分散介质参数。

检测方法

激光衍射法（ISO13320）测定粒径分布时需进行超声分散预处理（40kHz/300W），介质优先选用无水乙醇；电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）按GB/T17418.3进行银纯度分析；扫描电镜（SEM）观测形貌时加速电压宜设定在5-15kV；透射电镜（TEM）晶格条纹分析需配合选区电子衍射（SAED）；X射线光电子能谱（XPS）用于表面元素化学态表征；动态光散射（DLS）测试Zeta电位时温度应恒定在250.5℃。

检测仪器

主要配置设备包括：1）马尔文Mastersizer3000激光粒度仪（测量范围10nm-3.5mm）；2）赛默飞iCAPPROICP-OES（检出限0.01ppm）；3）日立SU8010场发射扫描电镜（分辨率1.0nm@15kV）；4）JEOLJEM-2100F透射电镜（点分辨率0.19nm）；5）麦克AutoPoreV1.06压汞仪（孔径测量范围3nm-360μm）；6）安东帕Litesizer500纳米粒度-Zeta电位一体机；7）布鲁克D8ADVANCEX射线衍射仪（2θ精度0.0001）。所有设备均通过CNAS校准认证，温控系统精度达0.1℃，湿度波动

检测报告作用

检测报告作用

销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力。

研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间。

司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据。

大学论文：科研数据使用。

投标：检测周期短，同时所花费的费用较低。

准确性高;工业问题诊断：较约定时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。