中析研究所检测中心
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中科光析科学技术研究所
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010-8646-0567
检测领域:
成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。
发布时间:2024-01-08
关键词:多晶硅检测标准,多晶硅成分分析,多晶硅检测机构
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来源:北京中科光析科学技术研究所
因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。
中析研究所成分分析检测机构可提供多晶硅检测服务。检测范围包括多晶硅、太阳能电池多晶硅、多晶硅片等。检测项目包括成分分析、性能检测、质量检测等。中析研究所出具的检测报告支持扫码查询真伪,报告。
多晶硅检测范围:多晶硅、太阳能电池多晶硅、多晶硅片、多晶硅太阳能板、多晶硅光伏组件、光伏多晶硅、多晶硅料、强大多晶硅片、多晶硅制品、低温多晶硅等。
多晶硅检测项目:成分分析、成分检测、成分鉴定、性能检测、质量检测、电阻率检测、腐蚀检测、老化检测等。
多晶硅检测周期:样品测试周期一般为10个工作日。
多晶硅检测费用:工程师根据检测项目进行报价。
多晶硅成分分析流程
1、寄样(或上门取样)
2、初检样品
3、根据实验复杂程度进行报价。
4、双方确定,签订保密协议,开始实验
5、完成实验
6、邮寄检测报告,提供后期服务。
中析研究所检测有哪些优势?
1、中析研究所检测周期短、费用低、检测数据科学准确。
2、检测报告。(支持扫码查询真伪,报告)
3、支持上门取样,寄样检测。
4、初检小样
5、提供完善的售后服务。
多晶硅检测标准
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量测定
GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量测定
GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
GB/T 12962-2005 硅单晶
GB/T 12963-1996 硅多晶
GB/T 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法
GB/T 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法
GB/T 4061-1983 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
GB/T 13389-1992 掺硼碜磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度
多晶硅介绍
多晶硅是单质硅的一种形态。熔融的单质硅在过冷条件下凝固时,硅原子以金刚石晶格形态排列成许多晶核,如这些晶核长成晶面取向不同的晶粒,则这些晶粒结合起来,就结晶成多晶硅。多晶硅可作拉制单晶硅的原料,多晶硅与单晶硅的差异主要表现在物理性质方面。例如,在力学性质、光学性质和热学性质的各向异性方面,远不如单晶硅明显;在电学性质方面,多晶硅晶体的导电性也远不如单晶硅显著,甚至于几乎没有导电性。在化学活性方面,两者的差异极小。多晶硅和单晶硅可从外观上加以区别,但真正的鉴别须通过分析测定晶体的晶面方向、导电类型和电阻率等。
以上部分就是关于多晶硅检测的内容,关于其他多晶硅检测问题,您也可以咨询在线工程师帮您解决!中析研究所是的检测机构,值得您的信赖!我们竭诚欢迎您前来洽谈合作!