X射线衍射仪

检测项目

晶体结构分析：通过采集和分析X射线衍射图谱，确定晶体的空间群、晶格常数及原子位置，为材料的基础性质研究提供关键结构信息。

物相鉴定：利用衍射数据与标准数据库进行匹配，识别样品中的不同晶体相，确保材料组成分析的准确性和可靠性。

晶粒尺寸测定：基于衍射峰宽化效应，使用Scherrer公式计算晶粒的平均尺寸，评估材料的微观结构特征。

残余应力分析：测量衍射角的偏移量，计算材料内部的应力分布，用于评估加工或使用过程中的应力状态。

织构分析：通过极图或反极图分析，确定多晶材料的取向分布和织构系数，反映材料的各向异性行为。

定量相分析：采用Rietveld精修或参考强度比方法，计算混合物中各相的相对含量，实现高精度组成定量。

薄膜厚度测量：利用X射线反射率或低角衍射技术，分析薄膜层的厚度和密度，适用于半导体和涂层材料。

非晶态结构分析：检测非晶材料的短程有序和径向分布函数，揭示其局部原子排列特征。

高温原位分析：在加热条件下实时监测材料的结构变化，如相变或热膨胀行为，提供动态过程数据。

小角X射线散射：分析纳米尺度的结构特征，如孔隙率、粒子尺寸分布和界面特性，适用于纳米材料研究。

检测范围

金属材料：用于分析合金的相组成、热处理效果和缺陷结构，确保材料性能符合工业应用要求。

陶瓷材料：鉴定陶瓷的晶体相、晶粒尺寸和烧结质量，支持高性能陶瓷的开发与质量控制。

聚合物材料：研究聚合物的结晶度、晶型转变和分子取向，影响其力学和热学性质。

药品和化学品：检测药物的多晶型、纯度和稳定性，为制药行业提供合规性分析支持。

地质样品：分析矿物的组成、结构和成因，应用于地质勘探和资源评估领域。

纳米材料：表征纳米颗粒的晶体结构和尺寸效应，用于纳米技术研究和产品开发。

半导体材料：测量半导体薄膜的晶格匹配、缺陷和掺杂效应，确保电子器件性能可靠性。

催化剂材料：研究催化剂的活性相、结构变化和失活机制，优化催化反应效率。

建筑材料：分析水泥、混凝土的水化产物和耐久性，支持建筑工程质量监控。

生物材料：如骨骼和牙齿的矿物成分和结构分析，应用于生物医学研究和诊断。

检测标准

ASTM E975-2020：标准实践用于X射线测定钢中残留奥氏体含量，规范测试条件和数据处理方法。

ISO 20203:2005：碳质材料在铝生产中的应用，煅烧石油焦的晶粒尺寸X射线衍射测定方法。

GB/T 13221-2004：纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法，适用于纳米材料粒度分析。

GB/T 17359-2012：微束分析 定量分析 能量色散X射线光谱法通则，提供通用分析框架。

ISO 14706:2014：表面化学分析 X射线光电子能谱仪能量标尺校准的标准规程。

ASTM D5380-2021：X射线荧光光谱法测定石油产品中硫含量的标准测试方法。

GB/T 36080-2018：金属材料 残余应力测定 X射线衍射法，详细规定应力测量步骤。

检测仪器

X射线衍射仪：产生单色X射线并检测衍射图案，用于晶体结构分析和物相鉴定，是核心检测设备。

高分辨率X射线衍射仪：提供更高角分辨率和平行光束，用于精确测量晶格参数和微观缺陷。

原位X射线衍射附件：集成温度、气氛或压力控制，允许在动态条件下监测材料结构变化。

X射线探测器：如闪烁计数器或CCD阵列，用于捕获和转换衍射信号，确保数据采集的灵敏度和速度。

样品定位台：提供精确的平移和旋转控制，确保样品均匀照射和定位，提高测量重复性

检测报告作用

销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力。

研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间。

司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据。

大学论文：科研数据使用。

投标：检测周期短，同时所花费的费用较低。

准确性高;工业问题诊断：较约定时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。